[发明专利]辐射源和用于将发射的辐射反馈到激光源的装置在审
申请号: | 201980049190.7 | 申请日: | 2019-07-22 |
公开(公告)号: | CN112470349A | 公开(公告)日: | 2021-03-09 |
发明(设计)人: | U.丁格 | 申请(专利权)人: | 卡尔蔡司SMT有限责任公司 |
主分类号: | H01S3/09 | 分类号: | H01S3/09 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 王蕊瑞 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 辐射源 用于 发射 辐射 反馈 激光 装置 | ||
1.一种用于投射曝光系统(1)或计量系统的辐射源(4),包括:
1.1.自由电子激光器(FEL)(35),其发射具有至多30nm的波长的照明辐射,以及
1.2.用于将发射的照明辐射(5)反馈到激光源(35)的装置(36),包括:
1.2.1.用于从束路径耦合出照明辐射(5)的至少一个光学部件(M1),和
1.2.2.用于将所耦合出的照明辐射(5)的至少一部分耦合到所述激光源(35)中的至少一个光学部件,
1.3.其中,所述用于从所述束路径耦合出照明辐射(5)的至少一个光学部件包括衍射光学元件(41)。
2.根据权利要求1所述的辐射源(4),其特征在于,所述用于从所述束路径耦合出照明辐射(5)的至少一个光学部件和/或用于将照明辐射(5)耦合到所述激光源(35)中的至少一个光学部件在各个情况下包括掠入射反射镜(M1、M4)——GI反射镜。
3.根据前述权利要求中任一项所述的辐射源(4),其特征在于,所述衍射光学元件(41)实施为可驱动的。
4.根据前述权利要求中任一项所述的辐射源(4),其特征在于,所述衍射光学元件(41)具有垂直于所述束方向的线。
5.根据前述权利要求中任一项所述的辐射源(4),其特征在于,所述衍射光学元件(41)具有平行于所述束方向的线。
6.根据权利要求2所述的辐射源(4),其特征在于,所述掠入射反射镜(M1、M4)中的至少一个由碳化硅(SiC)、硅(Si)、铜(Cu)、钌(Ru)、铝(A1)或金刚石或这些物质的成分或其化合物或合金制成。
7.根据前述权利要求中任一项所述的辐射源(4),其特征在于,具有所述衍射光学元件(41)的至少一个光学部件包括冷却单元。
8.根据前述权利要求中任一项所述的辐射源(4),其特征在于,所述辐射源包括两个掠入射反射镜(M1、M4)和两个法线入射反射镜(M2、M3)。
9.一种用于将发射的照明辐射(5)反馈到激光源(35)的装置(36),包括:
9.1.用于从束路径中耦合出照明辐射(5)的至少一个光学部件(M1),以及
9.2.用于将所耦合出的照明辐射(5)的至少一部分耦合到所述激光源(35)中的至少一个光学部件,
9.3.其中,所述用于从所述束路径耦合出照明辐射(5)的至少一个光学部件包括衍射光学元件(41)。
10.一种用于操作自由电子激光器(FEL)的方法,包括以下步骤:
10.1.提供根据权利要求1至8中任一项所述的辐射源(4),
10.2.通过所述自由电子激光器(35)生成照明辐射(5),
10.3.从所述束路径耦合出由所述自由电子激光器(35)生成的所述照明辐射(5)的一部分,
10.4.将所耦合出的照明辐射(5)的至少一部分再次耦合到所述自由电子激光器(35)中。
11.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,设置的是驱动所述衍射光学元件(41)以用于控制被引导到像场(23e)的照明辐射(5)。
12.一种用于投射曝光系统(1)或计量系统的照明系统(19),包括根据权利要求1至8中任一项所述的辐射源(4)。
13.一种微光刻投射曝光系统(1),包括:
13.1.根据权利要求12所述的照明系统(19),以及
13.2.用于将物场(11i)成像到像场(23i)中的至少一个投射光学单元(14i)。
14.一种计量系统,包括如权利要求12所述的照明系统(19)。
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