[发明专利]用于探测测量区域中的物质的光学探测系统

权利要求书

1.一种用于探测测量区域（44）中的至少一个物质的探测系统（40），

其中所述探测系统（40）包括接收器侧的均化设备（1）和接收器（42），

其中所述均化设备（1）构建为，使朝着场方向从所述测量区域（44）中逸出的光子场（50）的至少一部分均化，并且所述均化设备（1）包括第一扩散器（10）和第二扩散器（12），其中朝着所述场方向（54）来看，所述第一扩散器（10）布置在所述测量区域（44）下游，并且所述第二扩散器（12）布置在所述第一扩散器（10）下游而且以对于所述第一扩散器（10）为扩散器间距（14）来布置，使得从所述测量区域（44）中逸出的所述光子场（50）的至少一部分穿透两个扩散器（10，12），

其中所述第一扩散器（10）构建为，使入射到所述均化设备（1）上的输入光子场（51）均化，并且借此产生中间光子场（52），

其中所述第二扩散器（12）构建为，进一步使所述中间光子场（52）均化，并且借此产生输出光子场（53），所述输出光子场（53）朝着所述场方向（54）蔓延到所述接收器（42）上，并且

其中所述接收器（42）

- 朝着所述场方向（54）来看布置在所述第二扩散器（12）下游，

- 布置为使得，从所述测量区域（44）中逸出的并且经过均化的所述光子场（50）的至少一部分入射到所述接收器（42）上，和

- 构建为，根据入射的所述光子场（50）来产生信号。

2.根据权利要求1所述的探测系统（40），其特征在于，所述均化设备（1）相对于所述接收器（42）的位置是不变的。

3.根据上述权利要求中任一项所述的探测系统（40），其特征在于，所述均化设备（1）包括外罩面（21），

其中所述第一扩散器（10）、所述第二扩散器（12）和所述外罩面（21）共同包围中间空间（20），所述中间空间（20）能够被所述中间光子场（52）穿透。

4.根据权利要求3所述的探测系统（40），其特征在于，所述均化设备（1）构建为使得，所述中间光子场（52）穿透所述中间空间（20），而在所述中间空间（20）中没有被漫散射。

5.根据权利要求3或者权利要求4所述的探测系统（40），其特征在于，所述外罩面（21）包括至少一个反射镜（22）或者构造为反射镜（22），

其中所述外罩面（21）的所述反射镜或者每个反射镜（22）都构建为，将所述中间光子场（52）反射进入所述中间空间（20）中。

6.根据上述权利要求中任一项所述的探测系统（40），其特征在于，所述两个扩散器（10，20）中的至少一个扩散器、优选地所述第一扩散器（10）构建为体积扩散器、尤其是构建为小平面扩散器。

7.根据上述权利要求中任一项所述的探测系统（40），其特征在于，所述两个扩散器（10，20）中的至少一个扩散器、优选地所述第二扩散器（20）构建为表面扩散器，并且尤其是具有经过粗糙化的表面（13）。

8.根据上述权利要求中任一项所述的探测系统（40），其特征在于，所述第一扩散器（10）具有第一扩散器表面（11），所述第一扩散器表面（11）构建为，通过漫反射，从所述输入光子场（51）中产生所述中间光子场（52），

其中所述场方向（54）根据在所述第一扩散器表面（11）处的反射来改变。

9.根据上述权利要求中任一项所述的探测系统（40），其特征在于，所述第二扩散器（12）具有第二扩散器表面（13），所述第二扩散器表面（13）构建为，通过漫反射，从所述中间光子场（52）中产生所述输出光子场（53），

其中所述场方向（54）根据在所述第二扩散器表面（13）处的反射来改变。