[发明专利]具有实时分析和信号优化的电荷检测质谱分析在审

专利信息
申请号: 201980051680.0 申请日: 2019-01-11
公开(公告)号: CN112673451A 公开(公告)日: 2021-04-16
发明(设计)人: M·F·贾罗德;B·E·德拉普尔 申请(专利权)人: 印地安纳大学理事会
主分类号: H01J49/42 分类号: H01J49/42;H01J49/02
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 史婧;王丽辉
地址: 美国印*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 具有 实时 分析 信号 优化 电荷 检测 谱分析
【权利要求书】:

1.一种电荷检测质谱仪,包括:

静电线性离子阱(ELIT)或轨道阱,

被配置成向所述ELIT或轨道阱供应离子的离子源,

至少一个放大器,其具有可操作地耦合到所述ELIT或轨道阱的输入端,

至少一个处理器,其可操作地耦合到所述ELIT或轨道阱和所述至少一个放大器的输出端,以及

至少一个存储器,其中存储有指令,所述指令在被所述至少一个处理器执行时使所述至少一个处理器:(i)控制所述ELIT或轨道阱作为离子俘获事件的一部分,以试图在其中俘获由所述离子源供应的单个离子,(ii)基于在所述离子俘获事件的持续时间内由所述至少一个放大器产生的输出信号记录离子测量信息,(iii)基于所记录的离子测量信息,确定对所述ELIT或轨道阱的控制是否导致在其中俘获单个离子、无离子或多个离子,以及(iv)仅当单个离子在所述俘获事件期间在ELIT或轨道阱中被俘获时,基于所记录的离子测量信息来计算离子质量和离子质荷比中的至少一者。

2.根据权利要求1所述的电荷检测质谱仪,其中,存储在所述至少一个存储器中的所述指令还包括这样的指令,所述这样的指令当由所述至少一个处理器执行时使所述至少一个处理器(v)重复执行:(i)-(iv),以及(vi)为多个不同离子俘获事件中的每一个构建所计算的离子质量和离子质荷比中的至少一者的直方图。

3.根据权利要求2所述的电荷检测质谱仪,其中(vi)包括在每次确定对所述ELIT或轨道阱的控制导致在其中俘获单个离子并随后计算所述离子质量和离子质荷比中的所述至少一者之后,实时构建所述直方图。

4.根据权利要求1或权利要求2所述的电荷检测质谱仪,还包括显示监视器,

其中,存储在所述至少一个存储器中的指令还包括当由所述至少一个处理器执行时使所述至少一个处理器控制所述显示监视器显示直方图的指令。

5.根据权利要求3所述的电荷检测质谱仪,还包括显示监视器,

其中,存储在所述至少一个存储器中的指令还包括当由所述至少一个处理器执行时使所述至少一个处理器控制所述显示监视器实时显示所述直方图的构造的指令。

6.根据权利要求4或5所述的电荷检测质谱仪,其中,存储在所述至少一个存储器中的指令还包括当由所述至少一个处理器执行时使所述至少一个处理器重复执行(i)-(iv)并控制所述显示监视器显示单个离子俘获事件、无离子俘获事件和多个离子俘获事件的运行总数的指令。

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