[发明专利]成像系统探测器剪切引起的偏置校正在审

专利信息
申请号: 201980053326.1 申请日: 2019-07-09
公开(公告)号: CN112566554A 公开(公告)日: 2021-03-26
发明(设计)人: K·M·布朗 申请(专利权)人: 皇家飞利浦有限公司
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03;A61B6/00;G06T11/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 刘兆君
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 成像 系统 探测器 剪切 引起 偏置 校正
【权利要求书】:

1.一种系统(116),包括

去对数器(202),其被配置为对取对数的数据进行去对数以产生去对数的经剪切的数据,所述取对数的数据包括衰减线积分和剪切引起的偏置;

均值估计器(204),其被配置为估计所述去对数的经剪切的数据的平均值;

校正确定器(206),其被配置为基于所述去对数的经剪切的数据的所估计的平均值来确定对所述剪切引起的偏置的校正;以及

加法器(210),其被配置为利用所述校正来校正所述取对数的数据以产生经校正的取对数的数据。

2.根据权利要求1所述的系统,还包括:

校正函数(208),其中,所述校正确定器还被配置为基于所述校正函数来确定所述校正。

3.根据权利要求2所述的系统,其中,所述校正函数指示平均值在未经剪切的数据的真实平均值与去对数的经剪切的数据的平均值之间的偏移,所述未经剪切的数据被取对数以创建所述取对数的数据。

4.根据权利要求1至3中的任一项所述的系统,还包括:

校准和/或校正模块(120),其被配置为应用一个或多个校准和/或一个或多个校正。

5.根据权利要求4所述的系统,其中,所述校准和/或校正模块被配置为将所述一个或多个校准和/或一个或多个校正应用于所述经校正的取对数的数据。

6.根据权利要求4所述的系统,其中,所述校准和/或校正模块被配置为将所述一个或多个校准和/或一个或多个校正应用于所述取对数的数据。

7.根据权利要求4所述的系统,其中,所述校准和/或校正模块被配置为:将校准和/或校正的一个或多个集合应用于所述取对数的数据,并且将校准和/或校正的不同集合应用于所述经校正的取对数的数据。

8.一种包括根据权利要求1所述的系统的计算机断层摄影成像系统(100)。

9.根据权利要求1至8中的任一项所述的系统,还包括:

重建器(122),其被配置为重建所述经校正的取对数的数据以产生体积图像数据。

10.根据权利要求1至9中的任一项所述的系统,还包括:

探测器阵列(110);以及

所述探测器阵列的处理电子器件(114),所述处理电子器件被配置为响应于探测到X射线辐射而生成所述取对数的数据。

11.一种编码有计算机可执行指令的计算机可读介质,其中,所述计算机可执行指令在由处理器执行时使所述处理器:

对取对数的数据去对数以产生去对数的经剪切的数据,所述取对数的数据包括衰减线积分和剪切引起的偏置;

估计所述去对数的经剪切的数据的平均值;

基于所述去对数的经剪切的数据的所估计的平均值,确定对所述剪切引起的偏置的校正;并且

利用所述校正来校正所述取对数的数据,以产生经校正的取对数的数据。

12.根据权利要求11所述的计算机可读介质,其中,所述指令还使所述处理器:

基于校正函数来确定所述校正。

13.根据权利要求12所述的计算机可读介质,其中,校正函数指示平均值在未经剪切的数据的真实平均值与所述去对数的经剪切的数据的平均值之间偏移。

14.根据权利要求11至13中的任一项所述的计算机可读介质,其中,所述指令还使所述处理器:

在校正所述取对数的数据之前和/或之后,应用一个或多个校准和/或一个或多个校正。

15.根据权利要求11至14中的任一项所述的计算机可读介质,其中,所述指令还使所述处理器:

重建所述经校正的取对数的数据以产生体积图像数据。

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