[发明专利]用于测试传感器的方法在审

专利信息
申请号: 201980053754.4 申请日: 2019-08-12
公开(公告)号: CN112567206A 公开(公告)日: 2021-03-26
发明(设计)人: S·莱曼 申请(专利权)人: 大陆-特韦斯贸易合伙股份公司及两合公司
主分类号: G01D18/00 分类号: G01D18/00;G01D5/22;G01R31/52;G01R31/28
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 汪勤;吴鹏
地址: 德国法*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 测试 传感器 方法
【权利要求书】:

1.一种用于测试传感器的方法,该传感器具有初级电感(4),该初级电感与分别感应式地与所述初级电感(4)耦合的第一和第二次级电感(5、6)电分离,所述方法包括如下步骤:

-计算传感器输出信号(epos),其中,所述传感器输出信号(epos)与在初级电感(4)和第一次级电感(5)之间的耦合以及在初级电感(4)和第二次级电感(6)之间的耦合相关,

-确定传感器的与传感器输出信号(epos)不同的第一电参数(|Uprim|、|Iprim|、esum、edif),尤其是附加信号,

-将第一电参数(|Uprim|、|Iprim|、esum、edif)与第一极限值(s1)比较,以确定传感器是否处于故障状态中。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,通过交变电流发生器供给初级电感(4),其中,通过在初级电感(4)上出现的电压(|Uprim|)的量值形成第一电参数(|Uprim|、|Iprim|、esum、edif),或者通过交变电压发生器供给初级电感(4),其中

-通过流过初级电感(4)的电流(|Iprim|)的量值形成第一电参数(|Uprim|、|Iprim|、esum、edif),或者

-通过第一和第二次级电感(5、6)的信号的和(esum)或差(edif)形成第一电参数(|Uprim|、|Iprim|、esum、edif)。

3.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,将第二电参数(esum、edif)与第二极限值(s2)比较,以确定传感器是否处于故障状态中。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,通过第一和第二次级电感(5、6)的信号的和(esum)形成第一电参数,以及通过第一和第二次级电感(5、6)的信号的差(edif)形成第二电参数,或者相反。

5.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,将传感器输出信号(epos)用于检验传感器是否处于故障状态中的信息的可信度。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,为了检验传感器的状态的可信度,评估在传感器的测量范围中的传感器输出信号(epos)的可能的值之内,传感器输出信号(epos)是否相应于该值的相关的子范围(I)中的某一值。

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述子范围(I)包括传感器的测量范围的中点,优选地相对于中点镜像对称地延伸,其中,所述子范围(I)尤其是小于所述测量范围的40%,优选地小于所述测量范围的30%。

8.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,所述极限值(s1)或极限值(s1、s2)中的至少一个通过在传感器的测量范围上恒定的值形成,所述恒定的值在故障状态的情况下的、第一电参数的值和在没故障状态的情况下的、电参数的所有值或通过所述子范围(I)限定的值之间。

9.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,相应的电参数(|Uprim|、|Iprim|、esum、edif)涉及其在传感器的测量范围之内的可能的最大值。

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