[发明专利]检测分离膜元件中的缺陷的方法和用于检测分离膜元件中的缺陷的装置

权利要求书

1.一种用于检测分离膜元件的缺陷的方法，所述方法包括：

将所述分离膜元件布置在压力容器内部；以及

向所述压力容器的气体供应单元供应气体并利用通过所述分离膜元件的所述气体测量所述分离膜元件的渗透率，

其中所述分离膜元件中包括的分离膜包括多孔层和设置在所述多孔层上的活性层，以及所述活性层为聚酰胺活性层；以及

所述分离膜元件为螺旋卷绕模块，

其中通过所述用于检测分离膜元件的缺陷的方法检测其缺陷的所述分离膜元件包括中心管和壳体，以及

向所述压力容器的气体供应单元的气体供应是在所述中心管与所述壳体之间供应，

其中向所述压力容器的气体供应单元的气体供应是供应大于或等于0.2MPa且小于或等于0.6MPa的压缩气体，

其中，所述分离膜元件的水含量为1％至3％。

2.根据权利要求1所述的用于检测分离膜元件的缺陷的方法，其中，在所述分离膜元件的渗透率的测量中，所述压力容器包括气体排放单元，所述气体排放单元将通过所述分离膜元件的所述气体排放到所述压力容器外，以及

所述分离膜元件的渗透率利用排放至所述气体排放单元的所述气体来测量。

3.根据权利要求1所述的用于检测分离膜元件的缺陷的方法，包括当利用通过所述分离膜元件的所述气体测量的所述分离膜元件的渗透率为0.095L/分钟或更大时检测出所述分离膜元件的缺陷。

4.根据权利要求3所述的用于检测分离膜元件的缺陷的方法，还包括在氯化钠250g/L、0.41MPa、25℃和15％回收率的条件下评估所述分离膜元件的盐截留率。

5.根据权利要求4所述的用于检测分离膜元件的缺陷的方法，其中所述分离膜元件的盐截留率的评估为当所述分离膜元件的盐截留率为97％或更小时检测出所述分离膜元件的缺陷。

6.根据权利要求3所述的用于检测分离膜元件的缺陷的方法，还包括在氯化钠250g/L、0.41MPa、25℃和15％回收率的条件下评估所述分离膜元件的通量。

7.根据权利要求6所述的用于检测分离膜元件的缺陷的方法，其中所述分离膜元件的通量的评估为当所述分离膜元件的通量为340L/天或更大时检测出所述分离膜元件的缺陷。

8.一种用于检测分离膜元件的缺陷的装置，所述装置包括：

压力容器，所述压力容器包括气体供应单元和气体排放单元；和

测量单元，所述测量单元利用排放至所述气体排放单元的气体测量所述分离膜元件的渗透率，

其中所述分离膜元件中包括的分离膜包括多孔层和设置在所述多孔层上的活性层，以及所述活性层为聚酰胺活性层；以及

所述分离膜元件为螺旋卷绕模块，

其中通过所述用于检测分离膜元件的缺陷的装置检测其缺陷的所述分离膜元件包括中心管和壳体，以及

所述气体供应单元被设置成在所述中心管与所述壳体之间供应所述气体，

其中供应至所述气体供应单元大于或等于0.2MPa且小于或等于0.6MPa的压缩气体，

其中，所述分离膜元件的水含量为1％至3％。

9.根据权利要求8所述的用于检测分离膜元件的缺陷的装置，其中所述气体排放单元被设置成当通过所述分离膜元件的所述气体从所述分离膜元件的一端排放时将所述气体排放到所述压力容器外。