[发明专利]含氧族元素的有机化合物、有机半导体材料、有机半导体膜和有机电力场效应晶体管在审
申请号: | 201980055254.4 | 申请日: | 2019-08-29 |
公开(公告)号: | CN112638895A | 公开(公告)日: | 2021-04-09 |
发明(设计)人: | 冈本敏宏;竹谷纯一;三谷真人;伊藤阳介;松室智纪 | 申请(专利权)人: | 国立大学法人东京大学;Pi-克瑞斯托株式会社 |
主分类号: | C07D333/50 | 分类号: | C07D333/50;H01L29/786;H01L51/05;H01L51/30 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 张涛 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 含氧族 元素 有机化合物 有机 半导体材料 有机半导体 电力 场效应 晶体管 | ||
1.由下式(1a)或式(1b)表示的化合物,
[化学式1]
在式(1a)和式(1b)中,X表示S、O或Se,R1分别独立地表示氢原子、卤素原子、烷基、芳基、芳烷基、吡啶基、呋喃基、噻吩基或噻唑基。
2.权利要求1所述的化合物,其中R1分别独立地表示苯基烷基或烷基苯基。
3.权利要求1所述的化合物,其中R1分别独立地表示碳原子数为7~16的苯基烷基或碳原子数为7~16的烷基苯基。
4.权利要求1所述的化合物,其中R1分别独立地表示碳原子数为7~16的苯基烷基。
5.权利要求1所述的化合物,其中R1分别独立地表示碳原子数为1~14的烷基。
6.权利要求1所述的化合物,其中R1分别独立地表示卤素原子。
7.权利要求1~6中任一项所述的化合物,其在热重测定中,在氮气氛围下从常温以5℃/分钟的升温速度升温时,当热损失率为5%时的温度为350℃以上。
8.下式(X)表示的化合物,
[化学式2]
式(X)中,X表示S、O或Se,A分别独立地表示卤素原子。
9.由下式(2a)或式(2b)表示的化合物,
[化学式3]
式(2a)和(2b)中,X表示S、O或Se,A分别独立地表示卤素原子或氢原子。
10.下式(3a)或式(3b)表示的化合物,
[化学式4]
式(3a)或式(3b)中,X表示S、O或Se,A分别独立地表示卤素原子或氢原子,R2分别独立地表示烷基。
11.一种有机半导体材料,其含有权利要求1~7中任一项所述的化合物。
12.一种有机半导体膜,其含有权利要求1~7中任一项所述的化合物。
13.一种有机电力场效应晶体管,其具有基板、栅电极、栅绝缘膜、源电极、漏电极和有机半导体层,其中,
所述有机半导体层由权利要求12所述的有机半导体膜构成。
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