[发明专利]光学时域反射仪、光学传输线路的测试方法以及光学传输线路的测试系统

说明书

光源(2)输出监视光(ML)。光学检测单元(4)检测来自光学传输线路(TL)的返回光(BL)，并输出指示该返回光(BL)的强度的检测信号(VB)。光学复用器/解复用器(3)将从光源(2)输入的监视光(ML)输出到光学传输线路(TL)，并且将从光学传输线路(TL)输入的返回光(BL)输出到光学检测单元(4)。处理单元(1)检测检测信号(VB)小于第一阈值的第一时刻，检测检测信号(VB)小于第二阈值的第二时刻，并且计算第一和第二时刻之间的时段中的检测信号(VB)的第一变化率。处理单元(1)改变第一和第二阈值以计算多个时段的第一变化率，并且，当两个相邻时段中的第一变化率之间的第二变化率大于阈值时，一个时段中的第一和第二时刻的一个被检测为破坏位置。

技术领域

本发明涉及光学时域反射仪、光学传输线路的测试方法以及光学传输线路的测试系统。

背景技术

通常使用被称为OTDR的光学时域反射仪来检测由光纤等构成的光学传输线路的破坏。光学时域反射仪将作为监视光的光脉冲输出到光学传输线路，并且监视来自光学传输线路的各个部分的反向散射光

(所谓的返回光)的返回时间和强度以检测破坏位置。由于返回光不从破坏位置返回，此后，可以通过检测返回光的强度减小的时刻来确定光学传输线路的破坏位置。

例如，已经提出了一种OTDR波形确定方法，该方法不仅能够选择光学传输线路的破坏，而且能够选择由于构成光学传输线路的纤维的缠绕状态而引起的异常部分(PTL1)。

此外，如上所述，存在通过将脉冲光(监视光)输出到光学传输线路并测量来自故障位置的反射光返回的时间来检测故障位置的位置的各种已知方法(PLT2和PTL3)。

引用列表

专利文献

PTL1：日本未审专利申请公开号No.2011-38785

PTL2：日本未审专利申请公开号No.H4-132931

PTL3：日本未审专利申请公开号No.2008-3068

发明内容

发明解决的技术问题

当光学传输线路中发生破坏时，上述的常见光学时域反射仪被用来确定破坏位置。在这种情况下，将监视光输出到光学传输线路，获取指示返回光的强度变化的曲线，并且用户确定返回光的强度减小的时刻，从而确定破坏位置。然而，为了更可靠地维护光学传输线路，期望自动地检测光学传输线路的破坏并将检测结果告知用户。因此，需要自动地检测光学传输线路的破坏并高精度地检测破坏位置。

鉴于上述情况做出了本发明，并且本发明旨在准确且自动地检测光学传输线路的破坏位置。

解决技术问题的技术方案

本公开的一方面是一种光学时域反射仪，包括：光源，其被配置为输出监视光；光学检测单元，其被配置为检测来自光学传输线路的返回光并且输出指示返回光的强度的检测信号；光学复用器/解复用器，其被配置为将从光源输入的监视光输出到所述光学传输线路，并且将从光学传输线路输入的返回光输出到光学检测单元；处理单元，其被配置为检测检测信号的值变为小于第一阈值的第一时刻，检测检测信号的值变为小于不同于第一阈值的第二阈值的第二时刻以及计算第一变化率，所述第一变化率是在第一时刻和第二时刻之间的时段中的检测信号的变化率，其中，处理单元：通过改变第一阈值和第二阈值，计算多个时段的第一变化率；以及当作为第一时段中的第一变化率和与第一时段相邻的第二时段中的第一变化率之间的变化率的第二变化率大于变化率阈值时，将与第一时段中的第一变化率或第二变化率相对应的位置检测为光学传输线路的破坏位置。