[发明专利]包括磨损检测传感器的磨料制品在审

专利信息
申请号: 201980056570.3 申请日: 2019-08-02
公开(公告)号: CN112638585A 公开(公告)日: 2021-04-09
发明(设计)人: 雷米·J·古莱;维韦克·辛格;塞瑟马达范·拉维钱德兰;蒂埃里·德西雷;卡伦·康利;罗宾·钱德拉斯·贾亚拉姆;阿伦韦尔·坦加马尼;耶什万特·纳伦达尔;布赖恩·鲁特凯维奇;拉贾帕·塔德帕利 申请(专利权)人: 圣戈班磨料磨具有限公司;法国圣戈班磨料磨具公司
主分类号: B24B49/10 分类号: B24B49/10;B24B49/18
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 陈炜;李德山
地址: 美国马*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 包括 磨损 检测 传感器 磨料 制品
【权利要求书】:

1.一种磨料制品,其包含:

磨料本体,所述磨料本体包括包含在粘结材料内的磨料颗粒;以及

磨损检测传感器,所述磨损检测传感器配置成检测所述磨料本体的尺寸变化,其中所述磨损检测传感器的至少一部分联接至所述磨料本体的至少一部分并沿着所述磨料本体的至少一部分延伸。

2.根据权利要求1所述的磨料制品,其中所述磨损检测传感器包括至少一个电子设备,所述至少一个电子设备包括至少一个天线。

3.根据权利要求2所述的磨料制品,其中与联接至所述天线的电子元件相比,所述天线在所述磨料本体的更大的表面区域上方延伸。

4.根据权利要求2所述的磨料制品,其中所述天线布置成环形、蛇形或它们的组合。

5.根据权利要求2所述的磨料制品,其中所述电子设备包括电子元件,其中所述电子元件定位在所述磨料本体的非磨料部分内,并且其中所述至少一个天线的至少一部分定位在所述磨料本体的磨料部分中,其中所述电子元件包括芯片、集成电路、逻辑、微控制器、应答器、收发器、无源元件、电阻器、电容器、存储器或它们的任意组合。

6.根据权利要求2所述的磨料制品,其中所述天线至少部分地嵌入所述磨料本体中。

7.一种用于检测磨料制品中磨损的系统,其包含:

根据权利要求1所述的磨料制品;以及

数据接收单元,所述数据接收单元配置成接收由所述磨损检测传感器生成的数据。

8.根据权利要求1所述的磨料制品,其中磨损检测传感器包括多个天线,其中:

所述多个天线相较于彼此朝向所述磨料本体的材料去除表面延伸不同的长度;

所述多个天线中的至少一个定位在所述磨料本体的外圆周区域内;所述多个天线中的至少一个包括喇叭形本体,其中所述喇叭形本体的宽度随着所述天线的长度延长而增加;

所述多个天线中的至少一个从中心区域朝向所述磨料本体的材料去除表面在径向方向、轴向方向或它们的组合上延伸;

所述多个天线中的至少一个包括与所述材料去除表面对准的终端;

它们的任意组合。

9.根据权利要求1所述的磨料制品,其中所述磨损检测传感器包括联接至电气部件的至少一个电子设备,其中所述电气部件包括引线、电容器、电阻器、电感器、环形电路或它们的组合,其中所述电容器包括定位在所述磨料本体的内圆周区域中的第一电容极板和定位在所述磨料本体的外圆周区域中的第二电容极板。

10.根据权利要求1所述的磨料制品,其中所述磨损检测传感器包括沿着所述磨料本体的一部分平行地延伸的第一电子设备和第二电子设备,其中所述第一电子设备和第二电子设备彼此间隔开并且交错,使得与所述第二电子设备的第二终端相比,所述第一电子设备的第一终端更靠近材料去除表面,其中与所述第一电子设备的第三终端相比,所述第一终端在所述磨料本体的中心区域的远端,并且与所述第二电子设备的第四终端相比,所述第二终端在所述磨料本体的中心区域的远端。

11.根据权利要求1所述的磨料制品,其中所述磨损检测传感器包括彼此联接的多个部件,其中所述多个部件包括感测电路、微控制器、收发器、天线或它们的任意组合,其中所述感测电路包括:磁力计,诸如3轴磁力计;温度和/或湿度传感器;3轴加速度计;电容输入接口;或它们的任意组合。

12.一种磨料制品,其包含:

磨料本体,所述磨料本体包括:

磨料颗粒,所述磨料颗粒包含在粘结材料内;

磨损检测传感器,所述磨损检测传感器包括与所述磨料本体接触的至少一根引线;以及

至少一个逻辑器件,所述至少一个逻辑器件与至少一根导电引线连通。

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