[发明专利]检测元件、放射线检测装置以及康普顿相机在审

专利信息
申请号: 201980057295.7 申请日: 2019-09-12
公开(公告)号: CN112640030A 公开(公告)日: 2021-04-09
发明(设计)人: 高田淳史;谷森达;太田浩平;本村知久;大东良一;岛田修 申请(专利权)人: 国立大学法人京都大学;大日本印刷株式会社
主分类号: H01J47/06 分类号: H01J47/06;G01T1/18
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 李逸雪
地址: 日本国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 检测 元件 放射线 装置 以及 康普顿 相机
【权利要求书】:

1.一种检测元件,其特征在于,具备:

露出电极,作为在绝缘基板的第1面侧露出地配置的多个露出电极,至少包括第1露出电极、配置在所述第1露出电极的第1方向上的第2露出电极、配置在与所述第1露出电极的第1方向相交的第2方向上的第3露出电极、以及配置在所述第2露出电极的所述第2方向且配置在所述第3露出电极的所述第1方向上的第4露出电极;

第1电极图案,作为配置在所述绝缘基板的第1面的相反侧的第2面侧的第1电极图案,至少包括通过第1贯通电极与所述第1露出电极和所述第2露出电极连接的图案、以及通过第2贯通电极与所述第3露出电极和所述第4露出电极连接的图案;

第2电极图案,作为具有第1露出部的第2电极图案,至少包括与所述第1露出电极和所述第3露出电极对应且沿着所述第2方向配置的图案、以及与所述第2露出电极和所述第4露出电极对应且沿着所述第2方向配置的图案,所述第1露出部在所述第1面侧露出,并与所述露出电极分离地配置;和

第3电极图案,作为具有第2露出部的第3电极图案,至少包括沿着将所述第1露出电极和所述第4露出电极连结的第3方向配置,并且配置为通过所述第1电极图案和所述第2电极图案夹着所述第3电极图案的图案,所述第2露出部在所述第1面侧露出,并与所述露出电极以及所述第2电极图案分离地配置。

2.根据权利要求1所述的检测元件,其特征在于,

所述第2电极图案具有包围一个所述露出电极的第1开口部,

所述第3电极图案具有包围一个所述露出电极的第2开口部,

所述第1开口部的宽度大于所述第2开口部的宽度。

3.根据权利要求1所述的检测元件,其特征在于,

所述第3电极图案的所述第2露出部与所述第2电极图案配置在相同的层。

4.根据权利要求3所述的检测元件,其特征在于,

所述露出电极与所述第2电极图案配置在相同的层。

5.根据权利要求1所述的检测元件,其特征在于,

所述第1电极图案、所述第2电极图案以及所述第3电极图案的至少任意一者在包围所述第1露出电极、所述第2露出电极以及所述第4露出电极的区域中被电连接。

6.根据权利要求1所述的检测元件,其特征在于,

在所述第2面侧中,具有所述第1电极图案上的绝缘层。

7.根据权利要求1所述的检测元件,其特征在于,

所述第1露出电极和所述第2露出电极被相邻地配置,

所述第1露出电极和所述第3露出电极被相邻地配置,

所述第1露出电极和所述第4露出电极被相邻地配置。

8.根据权利要求7所述的检测元件,其特征在于,

所述第1露出电极和所述第2露出电极的距离、所述第1露出电极和所述第3露出电极的距离、以及所述第1露出电极和所述第4露出电极的距离相等。

9.根据权利要求8所述的检测元件,其特征在于,

在所述第2电极图案设置将所述第1露出电极和第3露出电极连结的第1假想直线时,所述第1露出电极的中心、和第2假想直线与所述第2电极图案的缘部相交的第1交点的距离,大于所述第1露出电极与所述第3露出电极之间的中间点、和第3假想直线与所述第2电极图案的缘部相交的第2交点的距离,所述第2假想直线穿过所述第1露出电极的所述中心且与所述第1假想直线正交,所述第3假想直线穿过所述中间点且与所述第1假想直线正交。

10.根据权利要求9所述的检测元件,其特征在于,

所述第2电极图案具有波线形状的缘部。

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