[发明专利]用于无损分析测试对象的动态辐射准直在审

专利信息
申请号: 201980057911.9 申请日: 2019-08-23
公开(公告)号: CN113167746A 公开(公告)日: 2021-07-23
发明(设计)人: 布雷特·A·缪劳泽尔 申请(专利权)人: 伊利诺斯工具制品有限公司
主分类号: G01N23/046 分类号: G01N23/046
代理公司: 上海脱颖律师事务所 31259 代理人: 脱颖
地址: 美国伊*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 无损 分析 测试 对象 动态 辐射
【说明书】:

对于一组第一阶段旋转位置中的每个相应的第一阶段旋转位置,成像系统可以生成相应的第一阶段图像。该成像系统可以基于该相应的第一阶段图像中的所标识的关注区来确定针对该相应的第一阶段旋转位置的准直器叶片位置。对于一组第二阶段旋转位置中的每个相应的第二阶段旋转位置,该成像系统可以基于针对这些第一阶段旋转位置的准直器叶片位置来确定针对该相应的第二阶段旋转位置的准直器叶片位置。当测试对象处于该相应的第二阶段旋转位置时并且当准直器叶片处于针对该相应的第二阶段旋转位置的准直器叶片位置时,该成像系统可以生成第二系列图像中的相应的第二阶段图像。该成像系统可以基于该第二系列图像计算测试对象的部分的断层摄影数据。

相关申请的交叉引用

本申请要求于2018年9月12日提交的标题为“用于无损分析测试对象的动态辐射准直(DYNAMIC RADIATION COLLIMATION FOR NON-DESTRUCTIVE ANALYSIS OF TESTOBJECTS)”的美国申请号16/129,404的优先权,该美国申请的全部内容通过引用结合于此。

技术领域

本公开内容涉及数字射线照相术和计算机断层摄影术。

背景技术

x射线数字射线照相术(DR)是使用数字x射线检测器(比如平板检测器、电荷耦合器件(CCD)相机或互补金属氧化物半导体(CMOS)相机或线性二极管阵列(LDA))的常用无创和无损成像技术。x射线计算机断层摄影术(CT)是使用以不同视角获取的计算机处理的x射线照相图像或正弦图来产生对象的3维(3D)数据和2维(2D)图像的过程。对象的断层摄影图像是对象的概念上二维“切片”的图像,该图像可以从射线照相图像或正弦图生成。计算设备可以使用对象的断层摄影图像、射线照相图像或正弦图来生成对象的3维数据,比如对象的3维模型。x射线CT可以用于工业目的,以对对象进行无损评估。

发明内容

在一个示例中,本公开内容描述了一种用于生成测试对象的断层摄影数据的方法,该方法包括:对于一组两个或更多个第一阶段旋转位置中的每个相应的第一阶段旋转位置:由成像系统生成第一系列图像中的相应的第一阶段图像,该相应的第一阶段图像是当该测试对象处于该相应的第一阶段旋转位置时生成的;由该成像系统标识该相应的第一阶段图像中的关注区(ROI),该ROI与被评估的测试对象的一部分相对应;以及由该成像系统基于该相应的第一阶段图像中的所标识的ROI来确定针对该相应的第一阶段旋转位置的准直器叶片位置,其中,辐射由辐射发生器发射并穿过准直器的孔,该准直器位于该辐射发生器与辐射检测器之间,该测试对象位于该辐射发生器与该辐射检测器之间,并且该准直器包括可移动以改变该准直器的孔的大小和形状的多个准直器叶片;对于一组两个或更多个第二阶段旋转位置中的每个相应的第二阶段旋转位置:由该成像系统基于针对这些第一阶段旋转位置的准直器叶片位置来确定针对该相应的第二阶段旋转位置的准直器叶片位置;以及由该成像系统生成第二系列图像中的相应的第二阶段图像,该相应的第二阶段图像是当该测试对象处于该相应的第二阶段旋转位置时并且当这些准直器叶片处于针对该相应的第二阶段旋转位置的准直器叶片位置时基于由该辐射检测器检测到的辐射图案生成的射线照片;以及由该成像系统基于该第二系列图像来计算被评估的测试对象的该部分的断层摄影数据。

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