[发明专利]用于宝石鉴定的装置、方法和系统

权利要求书

1.一种用于确定钻石的类型的系统，所述系统包括：

多个激光器，所述多个激光器用于将光导向钻石，其中，每个激光器具有不同的光波长；其中，来自所述多个激光器的光的光谱从紫外(UV)延伸到近红外(NIR)；

光谱仪，所述光谱仪用于响应于来自所述激光器的被导向所述钻石的光的不均匀性而收集来自所述钻石的光致发光光谱；

处理器模块，所述处理器模块用于将由所述光谱仪收集的光致发光光谱与已知钻石类型的预先存在的光致发光光谱进行比较；以及

输出模块，所述输出模块用于根据来自所述钻石的光致发光光谱和响应于已知钻石类型的不均匀性的所述预先存在的光致发光光谱之间的相关性的预定阈值，提供指示所述钻石的钻石类型的输出信号。

2.根据权利要求1所述的系统，其中，在所有激光器被同时激活时，所述光谱仪从所述钻石收集光致发光光谱强度数据。

3.根据权利要求1或权利要求2所述的系统，其中，所述不均匀性包括色心、内含物、缺陷、结晶度不一致、晶格变形、内应力、内应力、杂质和痕量元素。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的系统，其中，所述钻石的类型是天然钻石、化学气相沉积(CVD)合成钻石、高压高温(HPHT)合成钻石和处理过的天然钻石。

5.根据前述权利要求中任一项所述的系统，其中，所述系统包括3个激光器。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的系统，其中，所述系统包括4个激光器。

7.根据权利要求6所述的系统，其中，所述激光器具有360nm、457nm、514nm和633nm的波长。

8.一种用于确定钻石的类型的方法，所述方法包括以下步骤：

(i)响应于来自多个激光器的光的不均匀性，从所述钻石收集光致发光光谱，其中，每个激光器具有不同的光波长；其中，来自所述多个激光器的光的光谱从紫外(UV)延伸到近红外(NIR)；

(ii)在处理器模块中，将由所述光谱仪收集的光致发光光谱与已知钻石类型的预先存在的光致发光光谱进行比较；以及

(iii)从输出模块，响应于来自步骤(ii)的来自所述钻石的光致发光光谱和所述已知钻石类型的预先存在的光致发光光谱之间的相关性的预定阈值，提供指示所述钻石的类型的输出信号。

9.根据权利要求8所述的方法，其中，在所有激光器被同时激活时，所述光谱仪从所述钻石收集光致发光光谱强度数据。

10.根据权利要求8或权利要求9所述的方法，其中，所述不均匀性包括色心、内含物、缺陷、结晶度不一致、晶格变形、内应力、内应力、杂质、痕量元素和同位素。

11.根据权利要求8至10中任一项所述的方法，其中，所述钻石的类型是天然钻石、化学气相沉积(CVD)合成钻石、高压高温(HPHT)合成钻石和处理过的天然钻石。

12.根据权利要求8至11中任一项所述的方法，其中，已知钻石类型的预先存在的光致发光光谱强度数据已经使用权利要求1至6中任一项所述的系统获得。

13.一种用于在钻石检测中自动优化收集光谱的系统，所述系统包括带式工作台，其中，所述带式工作台的两侧分别被布置有显微镜物镜和光学装置，激光源被布置在所述显微镜物镜的前方，CCD传感器被布置在所述光学装置的后方，所述CCD传感器执行预获取，并且所述CCD传感器根据预获取结果调节其自身参数。

14.根据权利要求13所述的用于在钻石检测中自动优化收集光谱的系统，其中，所述显微镜物镜被固定到支撑框架。