[发明专利]用于二次采样/圆形测距光学相干断层扫描成像的主动正交解调

权利要求书

1.一种方法，包括：

使用电磁辐射源在一时间段内扫描样本，

所述时间段包括第一时间段和第二时间段，

所述电磁辐射源的样本部分被引导到光学干涉系统的样本臂中的所述样本，并且

所述电磁辐射源的参考部分被引导到所述光学干涉系统的参考臂；

使用相位调制器将包括第一相移和第二相移的相移施加到所述电磁辐射源的所述参考部分或所述样本部分中的至少一者，

在所述第一时间段期间施加所述第一相移，并且在所述第二时间段期间施加所述第二相移，

所述第二相移与所述第一相移相差90度；

基于在所述第一时间段期间的第一反向散射电磁辐射与经受所述第一相移的所述参考部分或所述样本部分中的至少一者之间的第一干涉，来采集同相数据；

基于所述第二时间段期间的第二反向散射电磁辐射与经受所述第二相移的所述参考部分或所述样本部分中的至少一者之间的第二干涉，来采集正交数据；以及

基于所述同相数据和所述正交数据来确定复合干涉帧。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述第一时间段期间所述第一相移是0度并且在所述第二时间段期间所述第二相移是90度。

3.如权利要求2所述的方法，

其中，施加相移进一步包括：

将所述相移施加到所述电磁辐射源的所述参考部分，

其特征在于，采集同相数据进一步包括：

基于在所述第一时间段期间的所述第一反向散射电磁辐射与经受所述第一相移的所述参考部分之间的所述第一干涉，来采集所述同相数据，

其中，采集正交数据进一步包括：

基于所述第二时间段期间的所述第二反向散射电磁辐射与经受所述第二相移的所述参考部分之间的所述第二干涉，来采集所述正交数据，并且

其中，确定复合干涉信号进一步包括：

基于所述同相数据和所述正交数据来确定所述复合干涉信号。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电磁辐射源发射多个电磁辐射脉冲，

其中所述多个电磁辐射脉冲包括第一A线和第二A线，所述第一A线包括在所述第一时间段期间发射的所述多个电磁辐射脉冲的第一子集，

所述第二A线包括在所述第二时间段期间发射的所述多个电磁辐射脉冲的第二子集，并且

其中，扫描所述样本进一步包括：

在所述第一时间段期间使用所述第一A线扫描所述样本，并且在所述第二时间段期间使用所述第二A线扫描所述样本。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述多个电磁辐射脉冲的所述第一子集与特定的波数序列相对应，并且

其中，所述多个电磁辐射脉冲的所述第二子集与所述特定的波数序列相对应。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述特定的波数序列中的第一波数与所述特定的波数序列中的第二波数不同。

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，在所述样本中的第一位置处扫描所述第一A线，并且在所述样本中与所述第一位置不同的第二位置处扫描所述第二A线。