[发明专利]单极性电平转移电路及半导体装置在审

专利信息
申请号: 201980068258.6 申请日: 2019-10-16
公开(公告)号: CN112889138A 公开(公告)日: 2021-06-01
发明(设计)人: 高桥圭;冈本佑树;石津贵彦;伊藤港 申请(专利权)人: 株式会社半导体能源研究所
主分类号: H01L21/336 分类号: H01L21/336;H01L29/786;H03K19/0185;H03K19/0944
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 宋俊寅
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 极性 电平 转移 电路 半导体 装置
【权利要求书】:

1.一种半导体装置,包括:

第一源极跟随器;

第二源极跟随器;以及

比较器,

其中,所述第一源极跟随器被供应第二高电源电位及低电源电位,

所述第二源极跟随器被供应第一高电源电位及所述低电源电位,

所述比较器被供应所述第一高电源电位及所述低电源电位,

所述第一高电源电位比所述低电源电位高,

所述第二高电源电位比所述第一高电源电位高,

所述第一源极跟随器被输入使用所述第二高电源电位及所述第一高电源电位表示高电平或低电平的数字信号,

所述比较器对所述第一源极跟随器的输出电位与所述第二源极跟随器的输出电位进行比较,

并且,所述比较器输出使用所述第一高电源电位及所述低电源电位表示高电平或低电平的数字信号。

2.一种半导体装置,包括:

第一源极跟随器;

第二源极跟随器;以及

比较器,

其中,所述第一源极跟随器被供应第二高电源电位及低电源电位,

所述第二源极跟随器被供应第一高电源电位及所述低电源电位,

所述比较器被供应所述第一高电源电位及所述低电源电位,

所述第一高电源电位比所述低电源电位高,

所述第二高电源电位比所述第一高电源电位高,

所述第一源极跟随器被输入使用所述第二高电源电位及所述第一高电源电位表示高电平或低电平的数字信号,

在所述第一源极跟随器的输出电位比所述第二源极跟随器的输出电位高时,所述比较器输出所述第一高电源电位,

并且,在所述第一源极跟随器的输出电位比所述第二源极跟随器的输出电位低时,所述比较器输出所述低电源电位。

3.一种半导体装置,包括:

第一源极跟随器;

第二源极跟随器;以及

比较器,

其中,所述第一源极跟随器被供应第二高电源电位及低电源电位,

所述第二源极跟随器被供应第一高电源电位及所述低电源电位,

所述比较器被供应所述第一高电源电位及所述低电源电位,

所述第一高电源电位比所述低电源电位高,

所述第二高电源电位比所述第一高电源电位高,

所述第一源极跟随器被输入使用所述第二高电源电位及所述第一高电源电位表示高电平或低电平的数字信号,

所述第二源极跟随器被输入规定电位,

在所述第一源极跟随器的输出电位比所述第二源极跟随器的输出电位高时,所述比较器输出所述第一高电源电位,

并且,在所述第一源极跟随器的输出电位比所述第二源极跟随器的输出电位低时,所述比较器输出所述低电源电位。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的半导体装置,

其中构成所述第一源极跟随器的晶体管、构成所述第二源极跟随器的晶体管及构成所述比较器的晶体管为n沟道型晶体管。

5.根据权利要求1至3中任一项所述的半导体装置,

其中构成所述第一源极跟随器的晶体管、构成所述第二源极跟随器的晶体管及构成所述比较器的晶体管在沟道形成区域中包含金属氧化物。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社半导体能源研究所,未经株式会社半导体能源研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201980068258.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top