[发明专利]用于探测和识别物质内的外来成分的系统和方法在审
申请号: | 201980068409.8 | 申请日: | 2019-10-18 |
公开(公告)号: | CN112955734A | 公开(公告)日: | 2021-06-11 |
发明(设计)人: | Y·格罗夫;D·多森科;M·卡普林斯基;H·阿隆;Y·巴雷克特;M·菲尔斯滕贝格;A·特拉奇曼;N·霍林;N·约兰 | 申请(专利权)人: | 安全事务有限公司 |
主分类号: | G01N23/02 | 分类号: | G01N23/02 |
代理公司: | 北京信诺创成知识产权代理有限公司 11728 | 代理人: | 贾博雍;刘金峰 |
地址: | 以色列*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 探测 识别 物质 外来 成分 系统 方法 | ||
1.一种系统,用于探测和识别物质中的至少一种预定外来成分,所述系统包括:
测量装置,其包括:辐射源组件,所述辐射源组件包括X光或伽玛光辐射的至少一个源,每个源被构造以产生X光或伽玛光辐射,所述X光或伽玛光辐射具有预定性能和辐射发射的预定立体角,以激发所述物质的位于所述预定立体角内的区域中的部分,从而引发所述部分的X光响应;探测组件,所述探测组件包括至少一个探测器,所述探测器所具有的辐射探测的立体角重叠于所述辐射发射的立体角,每个探测器被构造且能够操作为,探测在辐射探测的立体角内传播的X光辐射并产生测量数据,该测量数据指示出所探测到的X光响应;所述测量装置被构造且能够操作而使得:在所述物质与所述辐射源组件和所述探测组件中的至少一个之间沿移动路径的相对移位过程中所探测到的X光辐射指示出所述物质的X光响应的随时间变化;以及
控制单元,其被构造且能够操作而用于与所述探测组件进行数据通信,以接收和分析所述探测数据,所述控制单元包括信号处理器,所述信号处理器被构造且能够操作为,在所述测量数据中识别出信号随时间而变化的样式,所述样式指示所述物质中的承载X光响应标记物的至少一种外来成分的位置。
2.根据权利要求1所述的系统,其中,
所述移动路径经过所述辐射探测的立体角与所述辐射发射的立体角之间的重叠区域的近处。
3.根据权利要求1或2所述的系统,包括:
流水线结构,其包括支撑平台,用于支撑所述物质并且使所述物质相对于所述辐射源组件和辐射探测组件中的至少一个移动。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的系统,包括:
流水线结构,其包括转移组件,所述转移组件被构造且能够操作用于使所述辐射源组件和辐射探测组件中的至少一个相对于所述移动路径而转移。
5.根据权利要求4所述的系统,其中,
所述转移组件被构造且能够操作用于使所述辐射源组件和所述探测组件均相对于所述移动路径而转移。
6.根据权利要求5所述的系统,其中,
所述转移组件被构造且能够操作用于使所述辐射源组件和所述探测组件同时转移,使得它们的发射立体角和探测立体角取向为朝向所述移动路径的两个相反的侧向侧。
7.根据前述权利要求中任一项所述的系统,其中,
所述源组件和探测组件相对于所述移动路径的取向使得:所述辐射发射的立体角和探测的立体角相反于所述物质沿所述移动路径移动的方向,使得当所述物质移动经过所述重叠区域时,在所述物质与所述源和探测器中的每一个之间的距离减小。
8.根据权利要求7所述的系统,其中,
所述信号随时间而变化的所述样式的特征在于:非对称特征信号峰,其指示出所述至少一种外来成分的所述位置,并当所述距离减小时具有适度升高的信号强度且当所述至少一种外来成分的所述位置离开所述重叠区域时具有急剧降低的强度,由此能够准确识别所述至少一种外来成分沿至少一个维度的位置。
9.根据权利要求8所述的系统,其中,
所述信号处理器被构造且能够操作为,当所述外来成分正移动经过所述重叠区域时对指示出随时间探测到的所述X光响应的测量数据进行整合,由此突显所述信号峰的非对称特征。
10.根据前述权利要求中任一项所述的系统,其中,
所述移动路径是大致线性路径。
11.根据权利要求1至9中的任一项所述的系统,其中,
所述移动路径具有曲线路径,所述曲线路径具有与所述重叠区域的边界对准的至少一个曲形部分。
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