[发明专利]耿氏二极管和用于生成太赫兹辐射的方法在审

专利信息
申请号: 201980072140.0 申请日: 2019-08-23
公开(公告)号: CN112997333A 公开(公告)日: 2021-06-18
发明(设计)人: O·伊尔马佐格卢;A·S·豪约 申请(专利权)人: 达姆施塔特工业大学
主分类号: H01L47/02 分类号: H01L47/02
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 黄晓升
地址: 德国达*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 耿氏二极管 用于 生成 赫兹 辐射 方法
【说明书】:

发明涉及一种耿氏二极管,所述耿氏二极管包括第一接触层(110)和第二接触层(120)、有源层(130)、衬底(140)和用于激光器(50)的光学输入端(150);所述有源层(130)基于氮化镓(GaN)基半导体材料,所述有源层(130)形成于第一接触层(110)和第二接触层(120)之间;所述有源层(130)连同所述第一接触层(110)和所述第二接触层(120)形成在所述衬底(140);所述光学输入端(150)用以通过激光照射促进或触发所述有源层(130)的能量带的极值(210、220)之间的电荷载流子转移。

技术领域

本发明的示例性实施例涉及一种耿氏二极管、一种用于生成太赫兹辐射(THz辐射)的开关、和一种用于生成THz辐射并且特别地以激光照射和场板技术在GaN耿氏二极管上生成THz辐射的方法。

背景技术

耿氏效应已成功地用于GaAs或InP基半导体元件中以生成高频信号。这些半导体材料具有材料性质,诸如能带过程、电荷载流子速度和可迁移率,这些特性引发了耿氏效应的电子转移。

通过适当布线(例如,施加对应供应电压)使电子在二极管中成批地(诸如波)积累和迁移,耿氏二极管利用了这种效应。这继而导致电磁波根据该频率的生成和随后辐射。

特别对于极高频率(例如,在太赫兹范围内),已知GaAs基半导体元件具有一系列缺点。这些缺点是有原因的,因为电子的饱和速度和电子转移时间对于这些高频来说太低了。因此,这些半导体元件很难用于太赫兹范围内的频率。此外,所谓“电子转移效应”的阈值电场强度或能带隙对于高输出功率来说太小了。

因为还存在对于THz辐射源的渐增需求,所以可期望的是找到GaAs基半导体元件的替代品。

发明内容

上述问题的至少一部分通过根据权利要求1所述的耿氏二极管,通过根据权利要求10所述的开关和根据权利要求14所述的方法来解决。从属权利要求限定了独立权利要求的主题的其它有利实施例。

本发明涉及一种耿氏二极管,该耿氏二极管具有第一接触层、第二接触层、有源层、衬底和光学输入端。有源层基于氮化镓(GaN)基半导体材料(例如,Alx Iny Ga(1-x-y)N),并且形成于第一接触层和第二接触层之间。

有源层连同第一接触层和第二接触层形成于衬底上。光学输入端形成用于接收激光,以通过激光照射促进或触发有源层的能带之间的电荷载流子转移。

用于有源层的GaN基半导体材料可特别地包括以下项:二元化合物半导体(即,GaN)、三元化合物半导体(例如,AlGaN、InGaN)或四元化合物半导体(例如,AlInGaN)或具有甚至更多组分的其它化合物半导体,但GaN作为一种成分。

衬底任选地包括下述材料的一者:氮化镓、硅、碳化硅。

任选地,耿氏二极管还包括阳极触点(阳极电极)和阴极触点(阴极电极)。相比于有源层,第一接触层和/或第二接触层可为相同基体材料的较高掺杂区域。阳极触点可任选地形成于衬底的后侧上,使得其经由衬底(电气地)连接至第一接触层。阴极触点可电气地接触第二接触层。例如,第一接触层和第二接触层包括1x 1018cm-3至5x 1018cm-3的范围内的掺杂,并且阳极触点包括至少1020cm-3的掺杂。有源层也可进行掺杂以生成期望带结构。任选地,第一接触层可由衬底形成。在本发明不限于此的情况下,掺杂可例如以硅来进行(然而,许多其它材料为可能的)。

任选地,耿氏二极管还包括冷却本体(有源或无源),该冷却本体具有相比于衬底的较高导热性,以形成散热片。有源层与冷却本体的热连接可经由衬底来产生。

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