[发明专利]用于基于存储器组件耐久性估计执行耗损均衡调整的存储器子系统有效
申请号: | 201980075914.5 | 申请日: | 2019-11-15 |
公开(公告)号: | CN113039515B | 公开(公告)日: | 2022-06-24 |
发明(设计)人: | Z·舒伯欧科斯弗 | 申请(专利权)人: | 美光科技公司 |
主分类号: | G06F3/06 | 分类号: | G06F3/06;G06F12/02;G11C16/34 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 彭晓文 |
地址: | 美国爱*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 基于 存储器 组件 耐久性 估计 执行 耗损 均衡 调整 子系统 | ||
1.一种存储器系统,其包括:
存储器组件,其包括多个块;以及
处理装置,其与所述存储器组件可操作地耦合,所述处理装置经配置以执行包括以下各项的操作:
通过针对所述多个块中的每个选定块执行包括以下各项的操作来确定所述存储器组件的多个耐久性值:
基于擦除所述选定块的时间或所述选定块的错误统计中的至少一者而确定所述选定块的耐久性估计,
确定与关联于所述选定块的编程擦除循环的所记录数目相关联的第一耗损均衡组,多个耗损均衡组关联于编程擦除循环的多个所记录数目,所述多个耗损均衡组包括所述第一耗损均衡组和第二耗损均衡组,
确定关联于所述选定块的所述耐久性估计的第一年龄组,多个年龄组与多个擦除持续时间或多个错误统计带相关联,所述多个年龄组包括所述第一年龄组,年龄组的数目等于耗损均衡组的数目,且年龄组的所述数目大于二及耗损均衡组的所述数目大于二,以及
响应于确定所述第一年龄组不同于所述第一耗损均衡组,
基于所述选定块的所述耐久性估计而更新与所述选定块相关联的耐久性值,
确定所述第一年龄组对应于所述第二耗损均衡组,以及
将所述选定块关联于所述第二耗损均衡组;
接收发往所述存储器组件的写入指令;且
基于所述多个耐久性值将所述写入指令分发到所述多个块中的一或多者。
2.根据权利要求1所述的存储器系统,其中确定所述存储器组件的所述多个耐久性值进一步包括针对所述多个块中的每个选定块,执行包括以下各项的操作:
擦除所述选定块,以及
测量擦除所述选定块的时间。
3.根据权利要求1所述的存储器系统,其中确定所述存储器组件的所述多个耐久性值进一步包括针对所述多个块中的每个选定块,执行包括以下各项的操作:
擦除所述选定块,
将预定数据写入到所述选定块,
从所述选定块读取数据,以及
使用来自所述选定块的所述读取数据和所述预定数据确定所述选定块的错误统计。
4.根据权利要求2所述的存储器系统,其中确定所述存储器组件的所述多个耐久性值进一步包括针对所述多个块中的每个选定块,执行包括以下各项的操作:
将预定数据写入到所述选定块,
从所述选定块读取数据,以及
使用来自所述选定块的所述读取数据和所述预定数据确定所述选定块的错误统计。
5.根据权利要求1所述的存储器系统,其中所述处理装置经配置以执行进一步包括以下各项的操作:
确定与所述选定块相关联的编程擦除循环的所述所记录数目,以及
确定所述第一年龄组是否不同于所述第一耗损均衡组。
6.根据权利要求1所述的存储器系统,其中所述错误统计为以下各项中的至少一者:每一块的码字的最大错误数、每一码字的平均错误数或位错误率。
7.根据权利要求1所述的存储器系统,其中确定所述选定块的所述耐久性估计进一步包括:
基于擦除所述选定块的所述时间确定第一耐久性估计,
基于所述选定块的所述错误统计确定第二耐久性估计,且
基于所述第一耐久性估计和所述第二耐久性估计确定所述选定块的所述耐久性估计。
8.根据权利要求7所述的存储器系统,其中所述选定块的所述耐久性估计为以下各项中的一者:
所述第一耐久性估计和所述第二耐久性估计中的较大者,
所述第一耐久性估计和所述第二耐久性估计中的较小者,或
所述第一耐久性估计和所述第二耐久性估计的加权和。
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