[发明专利]单晶X射线结构解析装置和方法、以及用于此的试样固定器组件

权利要求书

1.一种单晶X射线结构解析装置，进行物质的结构解析，其特征在于，具备：

产生X射线的X射线源；

保持试样的试样固定器；

安装所述试样固定器并来回转动的测角仪；

对安装于所述测角仪的所述试样固定器中所保持的所述试样照射来自所述X射线源的X射线的X射线照射部；

检测通过所述试样而衍射或散射的X射线来进行测定的X射线检测测定部；和

基于在所述X射线检测测定部检测到的衍射或散射X射线来进行所述试样的结构解析的结构解析部，

将所述试样固定器装备于能拆装的敷料器来提供，

所述试样固定器包含能够在形成于内部的多个微细孔吸藏所述试样的细孔性络合物晶体，

所述敷料器具备：用于使所述试样吸藏在所述试样固定器的所述细孔性络合物晶体的空间，

将所述试样固定器在从所述敷料器拆下的状态下安装到所述测角仪的被照射来自所述X射线照射单元的X射线的位置。

2.一种试样固定器组件，在单晶X射线结构解析装置中使用，所述试样固定器组件的特征在于，具备：

安装于所述单晶X射线结构解析装置的测角仪的试样固定器；和

收纳所述试样固定器的敷料器，

所述试样固定器具备：保持能够在形成于内部的多个微细孔吸藏试样的细孔性络合物晶体的保持部，

所述敷料器具备：用于使所述试样吸藏在所述试样固定器的所述细孔性络合物晶体的空间。

3.根据权利要求2所述的试样固定器组件，其特征在于，

所述敷料器形成用于将所述试样导入用于使吸藏的空间内的试样导入结构。

4.根据权利要求3所述的试样固定器组件，其特征在于，

形成于所述敷料器的试样导入结构是贯通孔。

5.一种单晶X射线结构解析方法，利用试样固定器进行物质的结构解析，所述单晶X射线结构解析方法的特征在于，包含如下工序：

对于包含能够在形成于内部的多个微细孔吸藏所述试样的细孔性络合物晶体且收纳于具备用于使试样吸藏的空间的敷料器而提供的所述试样固定器的所述细孔性络合物晶体，通过在将所述试样固定器收纳于所述敷料器的状态下导入所述试样，来进行所述试样的吸藏；

将所述试样固定器从所述敷料器拆下；

将所述试样固定器安装到所述单晶X射线结构解析装置的测角仪；

X射线检测测定工序，将来自所述单晶X射线结构解析装置的X射线源的X射线照射到安装于所述测角仪的所述试样，检测通过所述试样衍射或散射的X射线来进行测定；和

基于通过所述X射线检测测定工序检测到的衍射或散射X射线来进行所述试样的结构解析。