[发明专利]用于对样本的荧光团进行光谱解析的方法及其系统在审
申请号: | 201980079703.9 | 申请日: | 2019-12-23 |
公开(公告)号: | CN113439205A | 公开(公告)日: | 2021-09-24 |
发明(设计)人: | 皮特·马赫;基根·奥斯利 | 申请(专利权)人: | 贝克顿·迪金森公司 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;G06F17/10 |
代理公司: | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人: | 侯丽英;谢攀 |
地址: | 美国新*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 样本 荧光 进行 光谱 解析 方法 及其 系统 | ||
1.一种方法,包括:
利用光探测系统来探测来自样本的光,所述样本包括具有重叠的荧光光谱的多个荧光团;以及
通过计算样本中每个荧光团的荧光光谱的光谱解混矩阵,来对样本中的每个荧光团的光进行光谱解析。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述光谱解混矩阵是使用加权最小二乘算法来计算的。
3.根据权利要求2所述的方法,其中,所述加权最小二乘算法是根据下式来计算的:
其中:
y是所述光探测系统的多个光电探测器针对每个细胞测量的探测器值;
是估算的荧光团丰度;
X是溢出;以及
W是
其中每个Wii是根据下式来计算的:
其中:
σi2是探测器i处的方差;
yi是探测器i处的信号;以及
λi是探测器i处的恒定噪声。
4.根据权利要求3所述的方法,其中,所述方法包括根据下式来计算所述光谱解混矩阵:
(XTWX)-1XTW
其中所述方法包括针对每个细胞来对(XTWX)求逆以计算所述光谱解混矩阵;以及
其中对(XTWX)求逆包括根据下式使用迭代Newton-Raphson计算来近似(XTWX):
A-1=(XTWX)-1;
其中,WG是根据所述光探测系统中的每个光电探测器的方差确定的W的预定近似值。
5.根据权利要求4所述的方法,其中,所述方法包括根据下式使用Sherman-Morrison迭代逆更新器来近似(XTWX):
6.根据权利要求2所述的方法,其中,所述加权最小二乘算法是通过矩阵分解来计算的,其中所述矩阵分解选自:
LU分解;
QR因式分解;以及
奇异值分解。
7.一种系统,包括:
光源,其配置为照射包括具有重叠的荧光光谱的多个荧光团的样本;
光探测系统,其包括多个光电探测器;以及
处理器,其包括可操作地耦接到所述处理器的存储器,其中所述存储器包括存储在其上的指令,所述指令在由所述处理器执行时使得所述处理器通过计算样本中每个荧光团的荧光光谱的光谱解混矩阵,来对样本中的每个荧光团的光进行光谱解析。
8.一种集成电路,其被编程为通过计算样本中每个荧光团的荧光光谱的光谱解混矩阵,来对样本中的每个荧光团的光进行光谱解析,所述样本包括具有重叠的荧光光谱的多个荧光团。
9.一种方法,包括:
利用光探测系统来探测来自包括多个荧光团的样本的光,所述多个荧光团具有重叠的荧光光谱;以及
通过计算样本中每个荧光团的荧光光谱的光谱解混矩阵,来估算样本中颗粒上的一个或更多个荧光团的丰度,
基于所估算的荧光团丰度来对样本中的细胞进行分选。
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