[发明专利]分析物传感器与阻抗确定在审
申请号: | 201980084659.0 | 申请日: | 2019-12-27 |
公开(公告)号: | CN113194827A | 公开(公告)日: | 2021-07-30 |
发明(设计)人: | S·泊姆;A·C·哈利-朝其麦克;D·荣;R·马;W·兰;施明连;D·B·谢特;N·卡尔法斯;V·P·克拉布特里;K·特克索伊 | 申请(专利权)人: | 德克斯康公司 |
主分类号: | A61B5/145 | 分类号: | A61B5/145;A61B5/1486;A61B5/1495;A61B5/157 |
代理公司: | 北京市君合律师事务所 11517 | 代理人: | 吴龙瑛;顾云峰 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 分析 传感器 阻抗 确定 | ||
1.一种分析物传感器系统,其包括:
分析物传感器,所述分析物传感器包括工作电极和参考电极,所述参考电极包括在使用所述分析物传感器期间耗尽的材料;以及
硬件装置,所述硬件装置与所述分析物传感器进行通信,其中所述硬件装置被配置成执行包括以下的操作:
向所述分析物传感器施加第一偏置电压,所述第一偏置电压小于所述分析物传感器的操作偏置电压;
当施加所述第一偏置电压时,测量所述分析物传感器处的第一电流;
向所述分析物传感器施加第二偏置电压;
当施加所述第二偏置电压时,测量所述分析物传感器处的第二电流;
使用所述第一电流和所述第二电流检测台阶偏置电压;
确定所述台阶偏置电压小于台阶偏置电压阈值;以及
在所述分析物传感器处执行响应动作。
2.根据权利要求1所述的分析物传感器系统,其中施加所述第一偏置电压和施加所述第二偏置电压包括沿着包含所述第一偏置电压和所述第二偏置电压的范围连续地扫掠所述分析物传感器的所述偏置电压。
3.根据权利要求1所述的分析物传感器系统,其中检测所述台阶偏置电压包括确定所述第一电流小于电流阈值。
4.根据权利要求1所述的分析物传感器系统,所述操作进一步包括使用所述第一电流和所述第二电流来确定所述分析物传感器的电流响应,其中检测所述台阶偏置电压包括确定所述电流响应的斜率约为零的偏置电压。
5.根据权利要求1所述的分析物传感器系统,所述操作进一步包括:
使用所述台阶偏置电压确定所述分析物传感器的寿命阶段数据;以及
在用户接口处显示所述寿命阶段数据。
6.根据权利要求1所述的分析物传感器系统,其中所述响应动作包括向由所述传感器产生的第三传感器电流施加补偿。
7.根据权利要求1所述的分析物传感器系统,其中所述响应动作包括:
停止向所述分析物传感器提供偏置电流;以及
在用户接口处显示所述分析物传感器的传感器会话结束的指示。
8.一种操作分析物传感器的方法,所述方法包括:
向所述分析物传感器施加第一偏置电压,所述第一偏置电压小于所述分析物传感器的操作偏置电压;
当施加所述第一偏置电压时,测量所述分析物传感器处的第一电流;
向所述分析物传感器施加第二偏置电压;
当施加所述第二偏置电压时,测量所述分析物传感器处的第二电流;
使用所述第一电流和所述第二电流检测台阶偏置电压;
确定所述台阶偏置电压小于台阶偏置电压阈值;以及
在所述分析物传感器处执行响应动作。
9.根据权利要求8所述的方法,其中施加所述第一偏置电压和施加所述第二偏置电压包括沿着包含所述第一偏置电压和所述第二偏置电压的范围连续地扫掠所述分析物传感器的所述偏置电压。
10.根据权利要求8所述的方法,其中检测所述台阶偏置电压包括确定所述第一电流小于电流阈值。
11.根据权利要求8所述的方法,其进一步包括使用所述第一电流和所述第二电流来确定所述分析物传感器的电流响应,其中检测所述台阶偏置电压包括确定所述电流响应的斜率约为零的偏置电压。
12.根据权利要求8所述的方法,其进一步包括:
使用所述台阶偏置电压确定所述分析物传感器的寿命阶段数据;以及
在用户接口处显示所述寿命阶段数据。
13.根据权利要求8所述的方法,其中所述响应动作包括向由所述传感器产生的第三传感器电流施加补偿。
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