[发明专利]用于对纯化学物质中超低浓度的远程线上浓缩及均质化的自动化系统

说明书

描述了浓缩且均质化远程样品以用于分析的系统及方法。样品浓缩及均质化系统实施例包含但不限于：至少第一阀；至少第一柱，其流体耦接至第一阀；流量计，在第一阀处于第一流动路径配置时，所述流量计与第一柱流体耦接以测量通过该第一柱的液体样品的量；以及均质化阀，其包含样品均质化回路，在所述样品均质化回路中浓缩样品被均质化。

背景技术

在许多实验室情境中，一次分析大量化学或生物样品通常是必要的。为了使这种过程/工艺流线化，已将样品的操纵机械化。这种机械化采样可被称为自动采样且可使用自动化采样装置或自动采样器执行。

电感耦合等离子体(ICP)光谱测定法是常用于确定液体样品中的微量元素浓度与同位素比率的分析技术。ICP光谱测定法采用电磁生成的部分电离的氩等离子体，其达到约7,000K的温度。当将样品引入至等离子体时，高温使样品原子变为电离的或发射光。由于各化学元素产生一特征质量或发射光谱，因此测量所发射质量或发射光的光谱允许确定原始样品的元素组分。

样品引入系统可用于将液体样品引入至ICP光谱仪(例如，电感耦合等离子体质谱仪(ICP/ICP-MS)、电感耦合等离子体原子发射光谱仪(ICP-AES)或类似物)或其他样品检测器或分析仪器中以用于分析。例如，样品引入系统可从容器抽出液体样品的一等分试样且此后将等分试样运送至喷雾器，该喷雾器将等分试样转换为适用于借由ICP光谱仪在等离子体中离子化的多分散气雾剂。接着，该气雾剂在喷雾室中分类以移除较大的气雾剂粒子。在离开喷雾室之后，借由ICP-MS或ICP-AES仪器的等离子体喷枪组件将气雾剂引入至等离子体中用于分析。

发明内容

描述了混合且均质化一浓缩样品以用于分析的系统及方法。用于借由电感耦合质谱仪分析液体样品的浓缩及均质化系统包括但不限于耦接至浓缩样品均质化系统的样品浓缩系统。该样品浓缩系统可包括：至少第一阀；至少第一交换柱/管柱，其配置成保持至少一种受关注化学物质且耦接至该第一阀；及液体质量流量计，其与该阀流体耦接且配置成测量通过该第一交换柱的液体质量或体积中至少一者。该系统进一步包括均质化阀，该均质化阀将该浓缩样品引入至样品均质器回路中，所述样品均质器回路产生均质浓缩样品以供分析。

提供发明内容以用简化形式介绍在下文实施方式中进一步描述的概念的选择。发明内容既不旨在识别所主张主题的关键特征或重要特征，也不旨在用作协助确定所主张主题的范围。

附图说明

参考附图提供具体描述。附图中所包含的任何尺寸仅借由示例提供且不意在限制本发明。

图1A是绘示根据本发明的示例实施例被配置成分析长距离运送样品的系统的部分管线图。

图1B是根据本发明的示例实施例的样品浓缩及均质化系统的环境视图。

图1C是根据本发明的示例实施例的样品浓缩及均质化系统的环境视图。

图1D是根据本发明的示例实施例的样品浓缩及均质化系统的环境视图。

图1E是根据本发明的示例实施例的样品浓缩及均质化系统的环境视图。

图1F是根据本发明的示例实施例的样品浓缩及均质化系统的环境视图。

图1G是根据本发明的示例实施例的样品浓缩及均质化系统的环境视图。

图1H是根据本发明的示例实施例的样品浓缩及均质化系统的环境视图。

图1I是根据本发明的示例实施例的样品浓缩及均质化系统的环境视图。

图1J是根据本发明的示例实施例的样品浓缩及均质化系统的环境视图。

图1K是根据本发明的示例实施例的样品浓缩及均质化系统的环境视图。

图1L是借助根据本发明的实施例的样品浓缩及均质化系统制备的液体样品中所存在的镁的计数对比浓度的校准图。