[发明专利]光学设备用致动器以及具备光学设备用致动器的镜头镜筒有效
申请号: | 201980087211.4 | 申请日: | 2019-12-23 |
公开(公告)号: | CN113272701B | 公开(公告)日: | 2023-02-03 |
发明(设计)人: | 榊原健士;梅田真;吉川直树;榎本龙博;森田哲哉 | 申请(专利权)人: | 松下知识产权经营株式会社 |
主分类号: | G02B7/02 | 分类号: | G02B7/02;G02B7/04;H02N2/10 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 王亚爱 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 备用 致动器 以及 具备 镜头 | ||
光学设备用致动器具备包含聚焦透镜(L11)的可动框(33)、主轴导杆(40)、压电元件(36a)、配重(36b)、固定框(30)、导杆保持框(35)、弹簧(36c)。压电元件(36a)对主轴导杆(40)的第1端(40a)侧赋予振动。固定框(30)支承配置于主轴导杆(40)的第1端(40a)侧的压电元件(36a)和配重(36b)。导杆保持框(35)以将主轴导杆(40)的与第1端(40a)侧相反的第2端(40b)侧固定的状态进行支承。弹簧(36c)设于主轴导杆(40)的第1端(40a)侧,经由配重(36b)来对主轴导杆(40)的第1端(40a)沿着轴方向按压压电元件(36a)。
技术领域
本公开涉及将镜头等光学设备沿着光轴方向前后驱动的光学设备用致动器以及具备光学设备用致动器的镜头镜筒。
背景技术
过去,为了使镜头镜筒的镜头框体在光轴方向上前后移动,使用能进行高速响应的SIDM(Smooth Impact Drive Mechanism,平滑冲击驱动机构)等导杆轴励磁用振动致动器。
例如在专利文献1中公开了一种驱动装置,其具备:驱动轴;将驱动轴的第1端侧用粘接剂等固定的压电元件;将驱动轴的第2端侧以能与轴方向平行地移动的状态进行支承的支承构件;和为了缓和在包含驱动轴的驱动部受到了与轴方向不同方向的外力的情况下要作用于驱动部的外力的影响而安装于压电元件的外力缓和支承部(弹簧等)。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:国际公开第2014/091656号
发明内容
但在上述现有的驱动装置的结构中有以下所示那样的问题点。
即,在上述公报公开的驱动装置的结构中,即使是向驱动轴等受到了与轴方向不同方向的外力的情况,也能通过弹簧等外力缓和支承部来缓和外力的影响。
但在现有的结构中,采用在驱动轴的第1端侧能在轴方向上移动的状态下被支承的所谓的浮动结构。即,在现有的结构中,在光轴方向上引导透镜的导杆轴的端部在不稳定的状态下被支承。为此,在将驱动装置例如搭载于包含聚焦透镜组的镜头镜筒的情况下,有可能由导杆轴引导的聚焦透镜组的光轴间的调整会变得困难。
本公开的课题在于,提供光学设备用致动器以及具备光学设备用致动器的镜头镜筒,能防止从与导杆轴的轴方向交叉的方向赋予的外力导致的破损,且能容易地实施透镜的光轴调整。
本公开所涉及的光学设备用致动器具备包含透镜的可动框、导杆轴、振动赋予部、配重(weight)、第1框体、第2框体和弹性构件。导杆轴能将可动框沿着透镜的光轴移动地进行支承。振动赋予部对导杆轴的第1端侧赋予振动。配重固定于振动赋予部。第1框体对配置于导杆轴的第1端侧的振动赋予部和配重进行支承。第2框体以将导杆轴的与第1端侧相反的第2端侧固定的状态进行支承。弹性构件设于导杆轴的第1端侧,经由配重对导杆轴的第1端沿着轴方向按压振动赋予部。
(发明的效果)
根据本公开所涉及的光学设备用致动器,能防止从与导杆轴的轴方向交叉的方向赋予的外力所引起的破损,并能容易地实施透镜的光轴调整。
附图说明
图1是表示具备本公开的一实施方式所涉及的光学设备用致动器的镜头镜筒的结构的立体图。
图2是构成图1的镜头镜筒的各部件的分解图。
图3是构成图2的镜头镜筒中所含的3组-4组组件的各部件的分解图。
图4是表示在图3的3组-4组组件中由压电元件赋予的振动的方向的侧视图。
图5是从摄像元件侧观察图3的3组-4组组件的主视图。
图6是图5的J-J线截面图。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于松下知识产权经营株式会社,未经松下知识产权经营株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201980087211.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于探测参考信号传输和接收的设备、网络和方法
- 下一篇:吸入器检测