[发明专利]单晶X射线结构解析装置以及试样保持架安装装置

权利要求书

1.一种试样保持架安装装置，是在进行物质的结构解析的单晶X射线结构解析装置安装对试样进行保持的试样保持架的试样保持架安装装置，其特征在于，

具备：试样保持架安装机构，对于装配于能够装卸的敷料器而提供的所述试样保持架，在将所述试样保持架从所述敷料器取下的状态下安装于所述单晶X射线结构解析装置的测角仪，

所述试样保持架包含能够在形成于内部的多个微细孔吸藏所述试样的细孔性络合物结晶，

所述细孔性络合物结晶在所述试样保持架安装于所述测角仪的状态下，固定在所述试样保持架的被照射来自所述X射线照射部的X射线的位置。

2.根据权利要求1所述的试样保持架安装装置，其中，

所述试样保持架安装机构具备：

试样保持架把持部，把持所述试样保持架；以及

敷料器把持部，把持所述敷料器，

所述试样保持架把持部或者所述敷料器把持部的至少一方能够在所述试样保持架把持部把持所述试样保持架的状态下向从所述敷料器把持部正把持的所述敷料器取下所述试样保持架的方向移动。

3.根据权利要求2所述的试样保持架安装装置，其中，

所述试样保持架把持部能够向所述试样保持架的安装了所述细孔性络合物结晶的销状的保持部的延长方向移动。

4.根据权利要求2或者3所述的试样保持架安装装置，其中，

所述试样保持架把持部能够在把持所述试样保持架的状态下转动。

5.根据权利要求2～4中的任一项所述的试样保持架安装装置，其中，

所述试样保持架把持部能够在把持所述试样保持架的状态下向在所述测角仪的试样保持架安装位置安装所述试样保持架的方向移动。

6.一种单晶X射线结构解析装置，是进行物质的结构解析的单晶X射线结构解析装置，其特征在于，具备：

X射线源，产生X射线；

所述试样保持架；

测角仪，安装并转动所述试样保持架；

X射线照射部，对被安装于所述测角仪的所述试样保持架所保持的所述试样照射来自所述X射线源的X射线；

X射线检测测定部，检测由所述试样衍射或者散射的X射线来进行测定；

结构解析部，基于在所述X射线检测测定部中检测出的衍射或者散射X射线来进行所述试样的结构解析；以及

权利要求1～权利要求4中的任一项所述的试样保持架安装装置。