[发明专利]用于确定介电值的测试设备在审

专利信息
申请号: 201980088886.0 申请日: 2019-12-10
公开(公告)号: CN113302480A 公开(公告)日: 2021-08-24
发明(设计)人: 托马斯·布勒德特 申请(专利权)人: 恩德莱斯和豪瑟尔欧洲两合公司
主分类号: G01N22/00 分类号: G01N22/00
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 穆森;戚传江
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 确定 介电值 测试 设备
【权利要求书】:

1.一种用于确定填充物质(3)的介电值(DK)的测量设备,所包括:

-信号产生单元(11),所述信号产生单元(11)具有

о高频振荡电路(111),所述高频振荡电路(111)被设计成产生电的高频信号(sHF),

о发射天线(112),所述发射天线(112)被设计成将所述高频信号(sHF)作为雷达信号(SHF)沿所述填充物质(3)的方向发射,和

-接收单元(12),所述接收单元(12)具有

о接收天线(121),所述接收天线(121)被配置成接收穿过所述填充物质(3)后的所述雷达信号(SHF),以及

о评价电路(123),所述评价电路(123)被设计成基于所接收到的雷达信号(SHF)的相位差或信号强度确定所述介电值(DK)。

2.根据权利要求1所述的测量设备,其中,所述接收单元(12)包括相位检测器(122),其中,所述相位检测器(122)被设计成产生第一评价信号(sreal),所述第一评价信号(sreal)与所接收到的雷达信号(SHF)和所述高频信号(sHF)之间的所述相位差成比例地改变,其中,所述信号产生单元(11)包括信号分配器(113),借助于所述信号分配器(113),能够将所述高频信号(sHF)耦合出,其中,所述相位检测器(122)被连接到所述信号分配器(113),以产生所述评价信号(sreal),并且其中,所述评价电路(123)被设计成基于所述第一评价信号(sreal)确定所述介电值(DK)的至少实部(ReDK)。

3.根据权利要求1或2所述的测量设备,其中,所述接收单元(12)包括幅度检测器(124),所述幅度检测器(124)根据所接收到的雷达信号(SHF)的信号强度产生第二评价信号(sim)。

4.根据权利要求3所述的测量设备,其中,所述评价电路(123)被设计成借助于所述第二评价信号(sim)确定所述介电值(DK)的虚部(ImDK)。

5.根据权利要求3所述的测量设备,其中,所述幅度检测器(124)至少包括第一可控接收放大器(125),其中,所述接收放大器(125)被设计成借助于所接收到的雷达信号(SHF)的放大率产生所述第二评价信号(sim),

其中,所述评价电路(123)被设计成控制所述接收放大器(125)的放大率(x),使得借助于控制信号(sc),所述第二评价信号(sim)近似恒定,并且其中,所述评价电路(123)被设计成从所述第二控制信号(sc)确定所述介电值(DK)的所述虚部(ImDK)。

6.根据权利要求5所述的测量设备,其中,至少第二接收放大器被布置成与所述第一接收放大器(124)并联或串联,以便借助于所接收到的雷达信号(SHF)的放大率而产生所述第二评价信号(sim)。

7.根据上述权利要求中的至少一项所述的测量设备,其中,所述信号产生单元(11)包括至少一个发射放大器(114),所述至少一个发射放大器(114)放大所述高频信号(sHF)。

8.根据权利要求5和7所述的测量设备,其中,所述第一发射放大器(114)能够控制,以使得所述第一发射放大器(114)的放大率借助于所述评价电路(123)的所述控制信号(sc)能够控制。

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