[发明专利]分光测定装置及分光测定方法在审

专利信息
申请号: 201980089626.5 申请日: 2019-12-20
公开(公告)号: CN113396317A 公开(公告)日: 2021-09-14
发明(设计)人: 井口和也;增冈英树 申请(专利权)人: 浜松光子学株式会社
主分类号: G01J3/36 分类号: G01J3/36
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 杨琦
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 分光 测定 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种分光测定装置,其中,

具备:

光学系统,其将被测定光分光而形成分光像;

光检测器,其具有在多行分别排列有多个像素的受光面,在所述受光面上形成在所述多行各自的像素排列方向上具有波长轴的所述分光像,且通过在所述受光面上的第1区域的排列于1行或多行的多个像素,而遍及第1曝光时间受光所述分光像并输出所述被测定光的第1光谱数据,且通过在所述受光面上的第2区域的排列于1行或多行的多个像素,而遍及第2曝光时间受光所述分光像并输出所述被测定光的第2光谱数据;及

解析部,其基于所述第1光谱数据及所述第2光谱数据而求得所述被测定光的光谱,

所述第2曝光时间比所述第1曝光时间长,

所述解析部在将所述光谱的波长带区分为包含所述第2光谱数据中的值为饱和水平以上的波长带的饱和波长带、和该饱和波长带以外的非饱和波长带时,基于所述第1光谱数据中的所述饱和波长带的第1部分光谱数据、和所述第2光谱数据中的所述非饱和波长带的第2部分光谱数据,求得所述被测定光的光谱。

2.根据权利要求1所述的分光测定装置,其中,

所述光检测器为CCD图像传感器。

3.根据权利要求2所述的分光测定装置,其中,

所述光检测器通过抗晕栅极,设定所述第1曝光时间及所述第2曝光时间的至少一方。

4.根据权利要求1~3中任一项所述的分光测定装置,其中,

所述光检测器同步进行所述第1光谱数据的输出动作和所述第2光谱数据的输出动作。

5.根据权利要求1~4中任一项所述的分光测定装置,其中,

所述光检测器使所述第2光谱数据的输出周期相对于所述第1光谱数据的输出周期为整数倍。

6.根据权利要求1~5中任一项所述的分光测定装置,其中,

所述解析部使用所述第1光谱数据及所述第2光谱数据的双方为饱和水平以下的波长带中的、所述第1光谱数据及所述第2光谱数据各自的累计值的比,来调整所述第1部分光谱数据及所述第2部分光谱数据的双方或任一方,并基于其调整后的所述第1部分光谱数据及所述第2部分光谱数据,求得所述被测定光的光谱。

7.一种分光测定方法,其中,

具备:

光检测步骤,其使用具有在多行分别排列有多个像素的受光面的光检测器,在所述受光面上形成在所述多行各自的像素排列方向上具有波长轴的被测定光的分光像,通过在所述受光面上的第1区域的排列于1行或多行的多个像素,而遍及第1曝光时间受光所述分光像并输出所述被测定光的第1光谱数据,且通过在所述受光面上的第2区域的排列于1行或多行的多个像素,而遍及第2曝光时间受光所述分光像并输出所述被测定光的第2光谱数据;及

解析步骤,其基于所述第1光谱数据及所述第2光谱数据而求得所述被测定光的光谱,

在所述光检测步骤中,所述第2曝光时间比所述第1曝光时间长,

在所述解析步骤中,将所述光谱的波长带区分为包含所述第2光谱数据中的值为饱和水平以上的波长带的饱和波长带、和该饱和波长带以外的非饱和波长带时,基于所述第1光谱数据中的所述饱和波长带的第1部分光谱数据、和所述第2光谱数据中的所述非饱和波长带的第2部分光谱数据,求得所述被测定光的光谱。

8.根据权利要求7所述的分光测定方法,其中,

在所述光检测步骤中,使用CCD图像传感器作为所述光检测器。

9.根据权利要求8所述的分光测定方法,其中,

在所述光检测步骤中,通过抗晕栅极设定所述第1曝光时间及所述第2曝光时间的至少一方。

10.根据权利要求7~9中任一项的所述分光测定方法,其中,

在所述光检测步骤中,同步进行所述第1光谱数据的输出动作和所述第2光谱数据的输出动作。

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