[发明专利]使用测试信号经由过混合耦合器检测信号的相位的方法和设备有效
申请号: | 201980089863.1 | 申请日: | 2019-01-22 |
公开(公告)号: | CN113366766B | 公开(公告)日: | 2022-06-24 |
发明(设计)人: | J·福雷;V·诺皮克;E·科赫维 | 申请(专利权)人: | 意法半导体有限公司;国家科学研究中心;波尔多理工学院;波尔多大学 |
主分类号: | H04B1/04 | 分类号: | H04B1/04;H04B1/18 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 董莘 |
地址: | 法国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 使用 测试 信号 经由 混合 耦合器 检测 相位 方法 设备 | ||
1.一种在功率合成器模式下操作混合耦合器的方法,所述方法包括:
在所述混合耦合器的第一输入处接收第一模拟信号;
在所述混合耦合器的第二输入处接收附加模拟信号,所述附加模拟信号相对于所述第一模拟信号被相移90°;
将具有初始测试相位的测试信号注入所述混合耦合器的第二输出;
从所述初始测试相位到最终测试相位,迭代地生成所述测试信号的当前测试相位,所述最终测试相位等于所述初始测试相位增加一次完整旋转的至少一部分,并且在每次迭代中:
从所述混合耦合器的第一输出测量输出信号的当前峰值,以及
响应于不存在比所述当前峰值高的存储的最大峰值、或比所述当前峰值低的存储的最小峰值,将所述当前测试相位和作为最大峰值或最小峰值的所述当前峰值分别存储在存储器中;以及
从所存储的测试相位确定所述第一模拟信号的相位。
2.根据权利要求1所述的方法,其中:
响应于所存储的测试相位对应于所存储的最大峰值,所述第一模拟信号的所述相位等于所存储的测试相位;或者
响应于所存储的测试相位对应于所存储的最小峰值,所述第一模拟信号的所述相位等于所存储的测试相位增加180°。
3.根据权利要求1所述的方法,其中所述最终测试相位是所述初始测试相位增加一次完整旋转。
4.根据权利要求1所述的方法,还包括:
将设定点相位与所述第一模拟信号的相位进行比较;以及
响应于所述设定点相位与所确定的所述第一模拟信号的相位不同,调节所述第一模拟信号的相位,直到所述设定点相位和所述第一模拟信号的相位在容限内相等。
5.根据权利要求4所述的方法,其中所述容限为5-10%。
6.根据权利要求4所述的方法,其中所述容限为5%。
7.一种电子设备,包括:
混合耦合器,被配置为在功率合成器模式下工作,所述混合耦合器包括:
第一输入,被配置为接收第一模拟信号;
第二输入,被配置为接收附加模拟信号,所述附加模拟信号相对于所述第一模拟信号被相移90°;
第一输出,被配置为提供输出信号;以及
第二输出;
检测电路,被配置为:
将具有初始测试相位的测试信号注入所述第二输出;
从所述初始测试相位到最终测试相位,迭代地生成所述测试信号的当前测试相位,所述最终测试相位等于所述初始测试相位增加一次完整旋转的至少一部分,并且在每次迭代中:
测量所述输出信号的当前峰值;以及
响应于不存在比所述当前峰值高的存储的最大峰值、或比所述当前峰值低的存储的最小峰值,将所述当前测试相位和作为最大峰值或最小峰值的所述当前峰值分别存储在存储器中;以及
从所存储的测试相位确定所述第一模拟信号的相位。
8.根据权利要求7所述的电子设备,其中:
响应于所存储的测试相位对应于所存储的最大峰值,所述第一模拟信号的所述相位等于所存储的测试相位;或者
响应于所存储的测试相位对应于所存储的最小峰值,所述第一模拟信号的所述相位等于所存储的测试相位增加180°。
9.根据权利要求7所述的电子设备,其中所述最终测试相位是所述初始测试相位增加一次完整旋转。
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