[发明专利]用于测试由随机数生成器生成的序列的设备和方法

权利要求书

1.一种用于测试由随机数生成器(11)生成的位序列的设备(10)，其中，所述设备被配置为响应于检测到由所述随机数生成器(11)生成的N个位，对所述位序列应用一个或多个统计测试(103)，每个统计测试提供从所述序列的位导出的至少一个总和值，所述测试设备包括：

-比较器，其用于将与每个统计测试相关的至少一个测试参数与一个或多个阈值进行比较；

-验证单元(105)，其被配置为取决于所述比较器针对每个统计测试进行的比较来确定所述位序列是否有效；

其中，所述测试参数和所述至少一个阈值中的至少一个是根据N和根据目标错误概率确定的。

2.根据权利要求1所述的设备，其中，被应用于所述序列的至少一个或多个统计测试(103)包括统计测试的集合，所述统计测试提供从所述序列的位导出的至少一个总和值，所述至少一个总和值提供针对每个统计测试的所述至少一个测试参数，所述设备还包括：

-阈值确定单元(101)，其用于针对所述统计测试的集合的每个统计测试，根据N并且根据与每个总和值相关联的目标错误概率来确定下阈值和上阈值；

其中，所述比较器(102)被配置为针对每个统计测试，将每个总和值与相关联的下阈值和上阈值进行比较。

3.根据权利要求2所述的设备，其中，所述比较器被配置为如果每个总和值严格高于所述相关联的下阈值并且严格低于所述上阈值，则输出针对统计测试的验证位。

4.根据权利要求3所述的设备，其中，所述验证单元被配置为如果针对统计测试的至少一个总和值低于或等于相关联的下阈值或者高于或等于对应的上阈值，则拒绝所述位序列。

5.根据前述权利要求2-4中任一项所述的设备，其中，所述统计测试(103)包括提供总和值T₁的AIS单位测试，对应的下阈值L₁和上阈值H₁等于：

以及

其中，α表示所述目标错误概率。

6.根据前述权利要求2-5中任一项所述的设备，其中，所述统计测试(103)包括提供总和值T₂的AIS扑克测试，对应的下阈值L₂和上阈值H₂等于：

以及

其中，M表示所述位序列中连续块的长度，且α表示错误概率。

7.根据前述权利要求2-6中任一项所述的设备，其中，所述统计测试(103)包括AIS运行测试，其针对长度为k的每个运行提供总和值T_3(N,k)，针对长度为k的每个运行的下阈值L_3,k和上阈值H_3,k等于：

其中，α表示所述目标错误概率且

8.根据前述权利要求中任一项所述的设备，其中，被应用于所述序列的至少一个或多个统计测试(103)包括统计测试的附加集合，针对每个统计测试，所述测试设备确定根据N和根据错误概率确定出的测试参数。

9.根据权利要求8所述的设备，其中，所述统计测试(103)包括AIS最长运行测试，所述测试参数是运行长度k，所述长度k根据以下等式确定：

其中，α表示长运行概率，

其中，所述比较器将所述测试参数k与运行的最大长度进行比较。

10.根据前述权利要求中任一项所述的设备，其中，所述位序列的长度N在一个或多个时钟周期之间改变。

11.根据前述权利要求1-10中任一项所述的设备，其中，能够在不同时间或同时接收针对错误概率和数量N的新值。