[发明专利]测距摄像机在审

专利信息
申请号: 201980091467.2 申请日: 2019-12-02
公开(公告)号: CN113424020A 公开(公告)日: 2021-09-21
发明(设计)人: 永井文也 申请(专利权)人: 三美电机株式会社
主分类号: G01C3/06 分类号: G01C3/06;G06T7/593
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 测距 摄像机
【权利要求书】:

1.一种测距摄像机,用于计算到被摄体的测距对象点的距离,所述测距摄像机的特征在于,具备:

第一光学系统,其用于将来自所述被摄体的光进行聚光来形成第一被摄体像;

第二光学系统,其用于将来自所述被摄体的所述光进行聚光来形成第二被摄体像;

摄像部,其用于拍摄由所述第一光学系统形成的所述第一被摄体像和由所述第二光学系统形成的所述第二被摄体像;以及

距离计算部,其用于通过进行同与所述被摄体的所述测距对象点对应的所述第一被摄体像及所述第二被摄体像的测距对象点的像高相应的计算,由此基于由所述摄像部拍摄到的所述第一被摄体像和所述第二被摄体像来计算到所述被摄体的所述测距对象点的所述距离,

其中,所述距离计算部基于所述第一被摄体像的倍率与所述第二被摄体像的倍率的像倍率比,来计算到所述被摄体的所述测距对象点的所述距离。

2.根据权利要求1所述的测距摄像机,其特征在于,

所述第一光学系统为以下光学系统:产生同与所述被摄体的所述测距对象点对应的所述第一被摄体像的所述测距对象点的所述像高相应的渐晕,并且所述第一光学系统的像空间中的所述第一被摄体像的所述测距对象点的所述像高处的主光线的延长线与所述第一光学系统的光轴的交点根据所述第一被摄体像的所述测距对象点的所述像高发生变化,

所述第二光学系统为以下光学系统:产生同与所述被摄体的所述测距对象点对应的所述第二被摄体像的所述测距对象点的所述像高相应的渐晕,并且所述第二光学系统的像空间中的所述第二被摄体像的所述测距对象点的所述像高处的主光线的延长线与所述第二光学系统的光轴的交点根据所述第二被摄体像的所述测距对象点的所述像高发生变化,

所述距离计算部构成为使用以下两个距离来进行所述计算:从所述第一光学系统的所述像空间中的所述第一被摄体像的所述测距对象点的所述像高处的所述主光线的所述延长线与所述第一光学系统的所述光轴的所述交点起至在所述被摄体存在于无限远处的情况下的所述第一被摄体像的成像位置为止的距离、以及从所述第二光学系统的所述像空间中的所述第二被摄体像的所述测距对象点的所述像高处的所述主光线的所述延长线与所述第二光学系统的所述光轴的交点起至在所述被摄体存在于无限远处的情况下的所述第二被摄体像的成像位置为止的距离,由此基于所述第一被摄体像的所述倍率与所述第二被摄体像的所述倍率的所述像倍率比来计算到所述被摄体的所述测距对象点的所述距离。

3.根据权利要求2所述的测距摄像机,其特征在于,

所述第一光学系统和所述第二光学系统构成为所述第一光学系统的焦距与所述第二光学系统的焦距互不相同,由此,所述第一被摄体像的所述倍率根据到所述被摄体的所述测距对象点的所述距离发生的变化与所述第二被摄体像的所述倍率根据到所述被摄体的所述测距对象点的所述距离发生的变化不同。

4.根据权利要求2或3所述的测距摄像机,其特征在于,

所述第一光学系统和所述第二光学系统构成为以下两个距离不同:从所述第一光学系统的所述像空间中的所述第一被摄体像的所述测距对象点的所述像高处的所述主光线的所述延长线与所述第一光学系统的所述光轴的所述交点起至在所述被摄体存在于无限远处的情况下由所述第一光学系统形成的所述第一被摄体像的所述成像位置为止的所述距离、以及从所述第二光学系统的所述像空间中的所述第二被摄体像的所述测距对象点的所述像高处的所述主光线的所述延长线与所述第二光学系统的所述光轴的所述交点起至在所述被摄体存在于无限远处的情况下由所述第二光学系统形成的所述第二被摄体像的所述成像位置为止的所述距离,由此,所述第一被摄体像的所述倍率根据到所述被摄体的所述测距对象点的所述距离发生的变化与所述第二被摄体像的所述倍率根据到所述被摄体的所述测距对象点的所述距离发生的变化不同。

5.根据权利要求2至4中的任一项所述的测距摄像机,其特征在于,

在所述第一光学系统的前侧主点与所述第二光学系统的前侧主点之间存在深度方向上的差,由此所述第一被摄体像的所述倍率根据到所述被摄体的所述测距对象点的所述距离发生的变化与所述第二被摄体像的所述倍率根据到所述被摄体的所述测距对象点的所述距离发生的变化不同。

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