[发明专利]半导体X射线检测器

权利要求书

1.一种适用于检测X射线的装置，其包括：

X射线吸收层，其包括电极；

电子器件层，其包括：

第一电压比较器，其被配置为将所述电极的电压与第一阈值进行比较；

第二电压比较器，其被配置为将所述电极的电压与第二阈值进行比较；

计数器，其被配置为记录所述X射线吸收层所吸收的X射线光子的数目；

控制器；

其中所述控制器被配置为从所述第一电压比较器确定所述电压的绝对值等于或超过所述第一阈值的绝对值的时间开始时间延迟；

其中所述控制器被配置为在所述时间延迟期间启动所述第二电压比较器；

其中所述控制器被配置为如果在所述时间延迟期间所述电压的绝对值等于或超过所述第二阈值的绝对值，则使所述计数器记录的所述数目增加一；以及

所述X射线吸收层与所述电子器件层之间的电连接之间的空间的壁。

2.如权利要求1所述的装置，其中所述电子器件层进一步包括电连接到所述电极的积分器，其中所述积分器被配置为从所述电极收集载流子。

3.如权利要求1所述的装置，其中所述控制器被配置为在所述时间延迟的开始或终止时启动所述第二电压比较器。

4.如权利要求1所述的装置，其中所述电子器件层进一步包括电压表，其中所述控制器被配置为促使所述电压表在所述时间延迟终止后测量电压。

5.如权利要求4所述的装置，其中所述控制器被配置为基于在所述时间延迟终止后测量的所述电压的值来确定X射线光子的能量。

6.如权利要求1所述的装置，其中所述控制器被配置为使所述电极连接到电接地。

7.如权利要求1所述的装置，其中所述电压的变化率在所述时间延迟终止时大致为零。

8.如权利要求1所述的装置，其中所述电压的变化率在所述时间延迟终止时大致为非零。

9.如权利要求1所述的装置，其中所述X射线吸收层包括二极管。

10.如权利要求1所述的装置，其中所述X射线吸收层包括硅、锗、GaAs、CdTe、CdZnTe或其组合。

11.如权利要求1所述的装置，其中所述装置不包括闪烁体。

12.如权利要求1所述的装置，其中所述装置包括像素阵列。

13.一种系统，其包括如权利要求1所述的装置和X射线源，其中所述系统被配置为对人的胸部或腹部进行X射线照相。

14.一种系统，其包括如权利要求1所述的装置和X射线源，其中所述系统被配置为对人的口腔进行X射线照相。

15.一种货物扫描或非侵入式检查(NII)系统，其包括如权利要求1所述的装置和X射线源，其中所述货物扫描或非侵入式检查(NII)系统被配置为使用反向散射的X射线来形成图像。

16.一种货物扫描或非侵入式检查(NII)系统，其包括如权利要求1所述的装置和X射线源，其中所述货物扫描或非侵入式检查(NII)系统被配置为使用被检查物体透射的X射线来形成图像。

17.一种全身扫描仪系统，其包括如权利要求1所述的装置和X射线源。

18.一种X射线计算机断层扫描(X射线CT)系统，其包括如权利要求1所述的装置和X射线源。

19.一种电子显微镜，其包括如权利要求1所述的装置、电子源和电子光学系统。