[发明专利]带有闪烁体的辐射检测器在审

专利信息
申请号: 201980093766.X 申请日: 2019-03-29
公开(公告)号: CN113614574A 公开(公告)日: 2021-11-05
发明(设计)人: 曹培炎;刘雨润 申请(专利权)人: 深圳帧观德芯科技有限公司
主分类号: G01T1/20 分类号: G01T1/20;G01T1/17
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518071 广东省深圳市南山区桃源街道塘朗*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 带有 闪烁 辐射 检测器
【说明书】:

本文公开了一种辐射检测器(300,500),其包括第一像素(150);第一反射器(314);第一闪烁体(316),其中所述第一反射器(314)被配置为将由所述第一闪烁体(316)发射的基本上所有的光子引导到所述第一像素(150)中。所述第一反射器(314)被配置为将由所述第一闪烁体(316)发射的光子朝向所述第一反射器(314)反射。所述第一闪烁体(316)基本上完全地被所述第一反射器(314)和所述第一像素(150)包围。

【技术领域】

本文的公开涉及辐射检测器。

【背景技术】

辐射检测器是一种测量辐射的特性的装置。所述特性的示例可包括辐射的强度、相位和偏振的空间分布。辐射可以是与物体相互作用的辐射。例如,由辐射检测器测量的辐射可以是已经从物体穿透或从物体反射的辐射。辐射可以是电磁辐射,比如红外光、可见光、紫外光、X射线或γ射线。辐射可以是其他类型,比如α射线和β射线。辐射可以包括辐射粒子,例如光子(电磁波)和亚原子粒子。

发明内容】

本文公开一种辐射检测器,其包括第一像素;第一反射器;和第一闪烁体,其中所述第一反射器被配置为将由所述第一闪烁体发射的基本上所有的光子引导到所述第一像素中。

根据实施例,所述第一反射器与所述第一闪烁体直接物理接触。

根据实施例,所述第一闪烁体与所述第一像素直接物理接触。

根据实施例,所述辐射检测器进一步包括与所述第一像素相邻的第二像素;第二反射器;和第二闪烁体,其中所述第二反射器被配置为将由所述第二闪烁体发射的基本上所有的光子引导到所述第二像素中。

根据实施例,所述第一反射器与所述第二反射器直接物理接触。

根据实施例,所述辐射检测器进一步包括与所述第一像素相邻的第三像素;第三反射器;和第三闪烁体,其中所述第三反射器被配置为将由所述第三闪烁体发射的基本上所有的光子引导到所述第三像素中。

根据实施例,所述第一反射器被配置为将由所述第一闪烁体发射的光子朝向所述第一反射器反射。

根据实施例,所述第一反射器对辐射粒子并非是不透明的,当所述辐射粒子入射到所述第一闪烁体上时,所述辐射粒子能够使所述第一闪烁体发射光子。

根据实施例,所述第一闪烁体基本上完全地被所述第一反射器和所述第一像素包围。

根据实施例,所述辐射检测器进一步包括第四反射器;和第四闪烁体,其中,所述第四反射器被配置为将由所述第四闪烁体发射的基本上所有的光子引导到所述第一像素中。

根据实施例,所述第一反射器包括选自铝、银、金、铜及其任意组合的材料。

根据实施例,所述第一闪烁体包括碘化钠。

根据实施例,所述第一闪烁体包括量子点。

根据实施例,所述辐射检测器进一步包括第一基板,其中所述第一闪烁体在所述第一基板的表面的凹部中。

根据实施例,所述第一反射器的一部分被设置在所述凹部的侧壁上。

根据实施例,所述第一反射器的一部分被设置在所述凹部的端壁上。

根据实施例,所述凹部具有截锥形的形状。

根据实施例,所述第一基板包含硅或二氧化硅。

根据实施例,所述辐射检测器进一步包括第二基板,其中所述第一像素在所述第二基板中。

根据实施例,所述辐射检测器进一步包括设置在所述第一基板和所述第二基板之间的密封层,其中所述密封层对于由所述第一闪烁体发射的光子并非是不透明的。

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