[发明专利]X射线残留应力测定用基准片的制造方法和X射线残留应力测定用基准片

说明书

本发明提供一种无畸变铁粉以外的金属材料作为X射线残留应力测定用基准片。对金属材料表面的至少一部分进行纳米结晶化之后，通过退火除去内在应变而进行去应力化，从而解决上述技术问题。

技术领域

本发明涉及X射线残留应力测定用基准片的制造方法和X射线残留应力测定用基准片。

背景技术

关于X射线残留应力测定，为了确认测定器是否正常工作，日本材料学会推荐对使用无畸变铁粉的基准片进行测定，确认测定是否在0MPa附近(无应力)(非专利文献1)。无畸变铁粉是使用粘合剂等使得充分退火的与纯铁相近的铁粉凝固而得的物体。使用该无畸变铁粉时，可以知道X射线残留应力的测定器正常工作。

近年来，X射线残留应力的测定器在工业领域中的使用日益增多。工业领域中存在希望将用于制造的材料作为对象的潜在需求。即，对于X射线残留应力测定用基准片，存在希望以无畸变铁粉以外的材料作为对象的潜在需求。例如，弹簧的制造公司需要将弹簧材料用作X射线残留应力测定用基准片，而齿轮的制造公司需要将用于齿轮的钢材用作X射线残留应力测定用基准片。

现有技术文献

非专利文献

[非专利文献1]社团法人日本材料学会X射线应力测定法标准(2002年版)-铁钢编-p73

发明内容

发明所要解决的技术问题

本发明的技术问题为提供一种无畸变铁粉以外的金属材料作为X射线残留应力测定用基准片。

解决技术问题所采用的技术方案

本发明人发现，对金属材料表面的至少一部分进行纳米结晶化之后，通过退火除去内在应变而进行去应力化，能解决上述技术问题，从而完成了本发明。

即，本发明涉及以下的(1)～(14)。

(1)一种X射线残留应力测定用基准片的制造方法，其特征在于，对金属材料表面的至少一部分进行纳米结晶化之后，通过退火进行去应力化。

(2)如(1)所述的X射线残留应力测定用基准片的制造方法，其特征在于，纳米结晶化通过喷丸硬化进行。

(3)如(2)所述的X射线残留应力测定用基准片的制造方法，其特征在于，通过喷丸硬化消除金属材料的取向性。

(4)如(2)或(3)所述的X射线残留应力测定用基准片的制造方法，其特征在于，通过喷丸硬化使得仅能耐受X射线残留应力测定的晶粒残留在金属材料中。

(5)如(1)～(4)中任一项所述的X射线残留应力测定用基准片的制造方法，其特征在于，纳米结晶存在于金属材料表面0～50μm的范围内。

(6)如(1)～(5)中任一项所述的X射线残留应力测定用基准片的制造方法，其特征在于，金属材料是以铁作为主成分的合金。

(7)如(1)～(6)中任一项所述的X射线残留应力测定用基准片的制造方法，其特征在于，X射线残留应力测定用基准片的残留应力为-55MPa以上55MPa以下。

(8)一种X射线残留应力测定用基准片，其特征在于，金属材料表面的至少一部分进行过纳米结晶化，通过退火进行过去应力化。

(9)如(8)所述的X射线残留应力测定用基准片，其特征在于，纳米结晶化通过喷丸硬化进行。

(10)如(9)所述的X射线残留应力测定用基准片，其特征在于，通过喷丸硬化消除金属材料的取向性。

(11)如(9)或(10)所述的X射线残留应力测定用基准片，其特征在于，通过喷丸硬化使得仅能耐受X射线残留应力测定的晶粒残留在金属材料中。

(12)如(8)～(11)中任一项所述的X射线残留应力测定用基准片，其特征在于，纳米结晶存在于金属材料表面0～50μm的范围内。

(13)如(8)～(12)中任一项所述的X射线残留应力测定用基准片，其特征在于，金属材料是以铁作为主成分的合金。