[发明专利]试样支承体、离子化方法和质量分析方法在审
申请号: | 201980094247.5 | 申请日: | 2019-12-11 |
公开(公告)号: | CN113574374A | 公开(公告)日: | 2021-10-29 |
发明(设计)人: | 小谷政弘;大村孝幸;田代晃 | 申请(专利权)人: | 浜松光子学株式会社 |
主分类号: | G01N27/626 | 分类号: | G01N27/626;G01N27/64 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 杨琦;陈明霞 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 试样 支承 离子化 方法 质量 分析 | ||
1.一种试样支承体,其特征在于:
所述试样支承体用于试样的离子化,
具备:
基板,其具有第1表面和与所述第1表面相反侧的第2表面,并形成有在所述第1表面和所述第2表面开口的多个第1贯通孔;
框架,其以在从所述基板的厚度方向观察的情况下包围所述基板中的用于使所述试样的成分离子化的测量区域的方式形成,并支承所述基板;和
保护层,其以与所述第1表面相对的方式配置,并具有与所述测量区域相对的相对部分,
在所述相对部分形成有在所述厚度方向贯通的第2贯通孔,
所述第2贯通孔包括具有比移液管吸头的前端的外径小的宽度的宽度窄部,其中,所述移液管吸头用于向所述测量区域滴下包含所述试样的试样溶液。
2.如权利要求1所述的试样支承体,其特征在于:
所述第2贯通孔形成为具有比所述外径小的宽度的筒状。
3.如权利要求1所述的试样支承体,其特征在于:
所述第2贯通孔形成为内径随着沿着所述厚度方向接近所述第1表面而变小的锥状,
在从所述厚度方向观察的情况下,所述第2贯通孔的与所述第1表面侧相反的一侧的开口具有包含所述移液管吸头的所述前端的大小。
4.如权利要求1所述的试样支承体,其特征在于:
所述第2贯通孔具有:
筒状部,其包含所述宽度窄部;和
碗状部,其与所述筒状部的与所述第1表面侧相反的一侧的端部连接,且内径随着沿着所述厚度方向远离所述第1表面而变大,
在从所述厚度方向观察的情况下,所述碗状部的与所述筒状部相反的一侧的开口具有包含所述移液管吸头的所述前端的大小。
5.如权利要求1~4中任一项所述的试样支承体,其特征在于:
所述相对部分以能够从所述第1表面剥离的方式直接或间接地粘接于所述第1表面。
6.如权利要求5所述的试样支承体,其特征在于:
所述相对部分具有:
粘接部分,其在所述第2贯通孔的所述第1表面侧的开口的周缘部直接或间接地粘接于所述第1表面;和
分离部分,其在从所述厚度方向观察的情况下位于比所述粘接部分靠外侧的位置,且从所述第1表面分离。
7.如权利要求1~4中任一项所述的试样支承体,其特征在于:
所述框架与所述基板的所述第1表面接合,
所述保护层以覆盖所述框架和所述测量区域的方式设置。
8.如权利要求1~4中任一项所述的试样支承体,其特征在于:
所述框架与所述基板的所述第2表面接合,并由磁性材料形成。
9.如权利要求8所述的试样支承体,其特征在于:
所述保护层由磁性材料形成,
所述保护层通过所述保护层与所述框架之间的磁力而相对于所述基板的所述第1表面固定。
10.如权利要求1~9中任一项所述的试样支承体,其特征在于:
进一步在所述第1表面具备导电层,该导电层以不堵塞所述第1贯通孔的方式设置。
11.如权利要求1~10中任一项所述的试样支承体,其特征在于:
所述第1贯通孔的宽度为1nm~700nm,
所述第2贯通孔的所述宽度窄部的宽度为500μm以下。
12.如权利要求1~11中任一项所述的试样支承体,其特征在于:
在所述基板上形成有多个所述测量区域,
所述保护层具有与所述多个所述测量区域对应的多个所述相对部分。
13.如权利要求1~12中任一项所述的试样支承体,其特征在于:
在所述第2贯通孔的内表面设置有亲水性的涂层。
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