[发明专利]用于在医学透射射线照相中操纵X射线的同轴X射线聚焦光学器件

权利要求书

1.一种装置，该装置包括与被配置用于在医学透射射线照相中操纵x射线的同轴x射线聚焦光学器件(15)结合布置的x射线检测器(20)，其中，该同轴x射线光学器件(15)包括透镜阵列，其中，这些透镜覆盖部分或整个视场，并且其中，该x射线检测器(20)是光子计数检测器，

其中，该x射线检测器(20)是能量分辨检测器，并且该透镜阵列的色差和/或源(10)的有限相干性通过该能量分辨检测器的能量分辨率来补偿，

和/或

其中，该x射线检测器(20)是深度分辨检测器，并且该透镜阵列的色差和/或源(10)的有限相干性通过该x射线检测器中的深度分辨率或体积分辨率来补偿。

2.根据权利要求1所述的装置，该装置被配置为将初级光子与散射光子分离，使得平行或接近平行的初级光子集中到焦点，而具有更宽角分布的散射光子不集中到焦点。

3.根据权利要求2所述的装置，其中，该x射线检测器(20)是像素化检测器，并且初级光子与散射光子之间的分离是用该像素化检测器进行的，所述检测器具有覆盖该透镜阵列中的每个透镜的两个或更多个像素。

4.根据权利要求2所述的装置，其中，除了该透镜阵列之外，还通过防散射栅来阻挡散射光子。

5.根据权利要求2所述的装置，其中，通过该x射线检测器(20)上游的针孔或狭缝来阻挡散射光子。

6.根据前述权利要求中任一项所述的装置，其中，该装置被配置用于与结合该x射线检测器(20)中的能量和/或深度分辨率使用的射线追踪方法一起操作以提高该装置的空间分辨率。

7.根据权利要求1所述的装置，其中，该装置被配置为根据检测到的焦斑相对于该透镜的光轴线的位置来在每个透镜处估计或使得能够估计成像对象在一个维度或两个维度上的局部相位梯度。

8.根据权利要求1或7所述的装置，其中，该装置被配置为根据焦斑的加宽或根据焦斑峰值之外的总信号来获得或使得能够获得关于该对象中的小角度散射的信息。

9.根据权利要求7或8所述的装置，其中，该装置被配置为通过扫描该x射线检测器(20)前面的光栅或多个针孔来确定或使得能够确定每个透镜的焦斑的位置和/或尺寸。

10.根据权利要求7或8所述的装置，其中，该x射线检测器(20)是高分辨率检测器并且该装置被配置为通过用该高分辨率检测器检测该信号来确定或使得能够确定每个透镜的焦斑的位置和/或尺寸，所述检测器的分辨率高于该焦斑与其标称尺寸和位置的偏差。

11.根据权利要求7或8所述的装置，其中，该装置被配置为确定或使得能够确定该焦斑的位置和/或尺寸达到比该检测器(20)更高的分辨率，其中，该x射线检测器的两个或更多个检测器元件对到达该x射线检测器(20)的聚焦光子的分布进行采样。

12.根据权利要求7至11中任一项所述的装置，其中，该装置包括放置在该源(10)前面的光栅或多个针孔，使得该透镜阵列中的每个透镜能操作用于对多个光斑进行成像。

13.根据前述权利要求中任一项所述的装置，该装置被配置用于乳腺成像。

14.根据前述权利要求中任一项所述的装置，该装置被配置用于计算机断层摄影。

15.根据前述权利要求中任一项所述的装置，该装置被配置用于荧光透视成像。

16.根据前述权利要求中任一项所述的装置，该装置被配置为同时采集透射图像、相衬图像和暗场图像中的至少两种。