[发明专利]用于处理存储器修复信息的方法和装置

说明书

用于修复存储器的系统和方法。一种方法包括执行嵌入式存储器的修复分析，以产生修复信息。该方法包括将修复信息存储在寄存器中，其中所述寄存器被组织成多个组，所述多个组包括长度相同的链。该方法包括在所述多个组的每一组中的修复信息之间执行冲突检测。该方法包括将多个组的每一组中的修复信息进行融合。该方法包括利用融合的修复信息对嵌入式存储器进行修复。

相关申请的交叉引用

本申请要求2019年4月19日提交的62/836,100号美国临时专利申请的申请日的权益，该美国临时专利申请通过引用并入本文。

技术领域

所公开的技术是针对用于电路设计、电路测试和电路制造的技术，更具体地，所公开的技术是针对用于处理具有嵌入式存储器的集成电路的存储器修复信息的创新的系统。

背景技术

当前的高密度半导体通常包括嵌入式存储器。内建自测试(built-in self-test，BIST)技术用于识别存储器中的缺陷和问题。类似地，这些存储器可以包括或采用内建自修复(built-in self-repair，BISR)技术，其中部分或全部修复分析(内建修复分析或BIRA(built-in repair analysis))和修复交付(repair delivery)都在芯片本身上执行。

这种分析和修复可以偶尔执行，或可以在每次启动嵌入式系统时执行。典型的修复包括将修复指令和其它修复信息存储到一个或多个寄存器中，然后利用可编程熔丝串行地传送且永久性地存储该修复信息。一个或多个寄存器可以耦合在BISR链中以存储存储器修复信息并且用于修复一个或多个坏的存储器单元。可以通过以扫描链方式串行地连接序列元素来形成BISR链，使得所需的数据可以被移位到序列元素中。将修复信息存储到BISR链中的过程将是耗时且低效的，并且当前技术需要大量存储。需要改进的技术。

发明内容

各个公开的实施例包括用于修复存储器的装置和方法。一种方法包括执行嵌入式存储器的修复分析，以产生修复信息。该方法包括将修复信息存储到寄存器中，其中所述寄存器被组织成多个组，所述多个组包括长度相同的链。该方法包括在所述多个组的每一组中的修复信息之间执行冲突(collision)检测。该方法包括将多个组的每一组中的修复信息进行融合。该方法包括利用融合的修复信息对嵌入式存储器进行修复。

在各个实施例中，该方法由例如计算设备、片上控制器或具有存储器的片上实现的电路的装置来执行。在各个实施例中，对嵌入式存储器进行修复包括存储融合的修复信息并随后将融合的修复信息进行广播。在各个实施例中，修复信息被存储在嵌入式非易失性存储器中。在各个实施例中，对嵌入式存储器进行修复包括存储融合的修复信息并随后将融合的修复信息进行广播，并且其中所述融合的修复信息在被存储之前进行压缩并且在被广播之前进行解压缩。在各个实施例中，所述多个组是被串行处理的。在各个实施例中，所述多个组是被并行处理的。在各个实施例中，当检测到冲突时中止修复过程。在各个实施例中，冲突检测包括确定在所述链的多于一个链中在由修复字大小限定的窗口内是否存在相同的修复字。在各个实施例中，选择某一组内的多个链的子集进行修复，而其它的不受干扰。各个实施例还包括对至少一个链中的修复信息进行修改，以产生相同的长度。

前面已经相当宽泛地概述了本公开的特征和技术优势，以便本领域技术人员可以更好地理解下面的详细描述。下面将描述形成权利要求主题的本公开的附加特征和优点。本领域技术人员将理解，他们可以容易地使用所公开的概念和特定实施例作为用于修改或设计其它结构以实现本公开的相同目的的基础。本领域的技术人员还将认识到，这种等效结构不会偏离最广泛形式的本公开的精神和范围。