[发明专利]气体分析仪

说明书

本发明提供一种气体分析仪。所述气体分析仪包含：光源(110)；分光器(150)，其将由所述光源发射的光分为测量光和参考光；测量臂(510)和参考臂(530)，其中待测量的气体填充于所述测量臂中，参考气体填充于所述参考臂中，所述测量光以传播方式穿过所述测量臂，且所述参考光以传播方式穿过所述参考臂；光学检测器(750)，其接收以传播方式穿过所述测量臂的光和以传播方式穿过所述参考臂的光，且将所述所接收的光转换成电信号；以及编码器(300)，其安置于所述分光器与所述测量臂和所述参考臂之间，其中所述编码器被配置成对所述测量光和所述参考光中的一者进行编码且阻挡所述测量光和所述参考光中的另一者。因此，所述气体分析仪的结构可简化。

技术领域

本发明涉及一种气体分析仪。

背景技术

一种气体分析仪，也被称为气体分析仪器，可被配置成分析气体成分。举例来说，作为气体分析仪，光学气体分析仪通过使用气体中特定成分在特定波长的光上具有不同吸收率的特征来分析气体成分。具体来说，光可首先照射待分析的气体。接着，可借助于光电传感器接收以透射方式穿过待分析的气体的光，以获得以透射方式穿过待分析的气体的光的强度。待分析的气体中的成分吸收特定波长的光，且以透射方式穿过待分析的气体的光的强度变小，且因此，举例来说，通过比较以透射方式穿过待分析的气体的光的减小的强度与参考光的强度，可确定待分析的气体中的成分和其内容。

发明内容

本发明将解决前述和/或其它技术问题并且提供一种气体分析仪。

根据示范性实施例，一种气体分析仪包含：光源；分光器，其将由所述光源发射的光分为测量光和参考光；测量臂和参考臂，其中待测量的气体填充于所述测量臂中，参考气体填充于所述参考臂中，所述测量光以传播方式穿过所述测量臂，且所述参考光以传播方式穿过所述参考臂；光学检测器(750)，其接收以传播方式穿过所述测量臂的光和以传播方式穿过所述参考臂的光，且将所接收的光转换成电信号；以及编码器(300)，其安置于所述分光器与所述测量臂和所述参考臂之间，其中所述编码器被配置成对所述测量光和所述参考光中的一者进行编码且阻挡所述测量光和所述参考光中的另一者。

所述气体分析仪包含光栅，所述光栅安置于所述光源与所述分光器之间，其中所述光栅被配置成将从所述光源发射的所述光分离成具有不同波长的多个光束。

所述气体分析仪包含透镜单元、光学耦合器和位置调节器，其中所述透镜单元被配置成引导以传播方式穿过所述测量臂的所述光和以传播方式穿过所述参考臂的所述光以进入所述光学耦合器，所述光学耦合器被配置成引导由所述透镜单元引导的所述光以照射所述光学检测器，并且所述位置调节器被配置成调节所述光学检测器的位置，使得所述光学检测器位于所述光学耦合器的焦点处。

所述编码器包含：编码图案，其被配置成允许所述测量光或所述参考光中的一者的至少一个部分以透射方式穿过所述编码图案且传播到所述测量臂或所述参考臂，以对所述光束进行编码；以及遮光图案，其被配置成阻挡所述测量光或所述参考光中的另一者以透射方式穿过所述遮光图案。

所述编码图案包含彼此不同的多个编码图案，且所述编码器被配置成借助于彼此不同的所述多个编码图案中的一者在预设时间对所述测量光或所述参考光中的一者进行编码，且阻挡所述测量光和所述参考光中的另一者。

所述编码图案包含彼此不同的多个编码图案，且所述编码器被配置成借助于彼此不同的所述多个编码图案中的多个编码图案在预设时间段对所述测量光或所述参考光中的一者进行编码，且阻挡所述测量光和所述参考光中的另一者。

所述编码图案包含遵守沃尔什-哈达玛算法的编码图案，且所述编码器被配置成借助于遵守所述沃尔什-哈达玛算法的所述图案对所述测量光或所述参考光中的一者进行编码，且阻挡所述测量光和所述参考光中的另一者。

所述编码器包含圆形编码芯片，其中所述编码图案位于所述圆形编码芯片的至少一个扇区上。