[发明专利]用于激光雷达系统的图像传感器在审
申请号: | 201980098331.4 | 申请日: | 2019-07-30 |
公开(公告)号: | CN114174866A | 公开(公告)日: | 2022-03-11 |
发明(设计)人: | 曹培炎;刘雨润 | 申请(专利权)人: | 深圳源光科技有限公司 |
主分类号: | G01S17/894 | 分类号: | G01S17/894;G01S17/10;H01L31/107 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518054 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 激光雷达 系统 图像传感器 | ||
本文公开了一种操作设备(500)的方法,所述设备包括(a)包括雪崩光电二极管(APD)(i)(350),i=1,…,N,N为正整数,阵列的图像传感器(300),(b)辐射源(520),以及(c)光学系统(510),所述方法包括:使用所述辐射源(520)在时间点T1a(710)发射第一照明光子的第一脉冲;对于i=1,…,N,测量飞行时间(1,i)(720);对于i=1,…,N,基于所述飞行时间(1,i),确定光点距离(1,i)(730);使用所述辐射源(520)在时间点T2a(740)发射第二照明光子的第二脉冲;对于j=1,…,N,测量飞行时间(2,j)(750);对于j=1,…,N,基于所述飞行时间(2,j),确定光点距离(2,j)(760);并且,对于k=1,…,N,比较所述光点距离(1,k)和所述光点距离(2,k)(770)。所述光学系统(510)包括第一柱面透镜(802)和第二柱面透镜(804)。
【技术领域】
本文的公开涉及用于激光雷达(光检测和测距)系统的图像传感器。
【背景技术】
图像传感器或成像传感器是可以检测辐射的空间强度分布的传感器。图像传感器通常通过电信号表示检测到的图像。基于半导体器件的图像传感器可以分为几种类型,其包括半导体电荷耦合器件(CCD)、互补金属氧化物半导体(CMOS)和N型金属氧化物半导体(NMOS)。
如上所述,图像传感器除了用于捕获物体的二维(2D)图像(即,用于检测入射辐射的空间强度分布)之外,其还可以用于激光雷达(光检测和测距)系统,用于捕获物体的距离图像(即,用于检测入射辐射的空间距离分布)。
【发明内容】
本文公开一种操作设备的方法,所述设备包括(a)包括雪崩光电二极管
(APD)(i),i=1,…,N,N为正整数,阵列的图像传感器,对于i=1,…,N,所述雪崩光电二极管(i)包括吸收区(i)和放大区(i),其中所述吸收区(i)被配置为从被所述吸收区(i)吸收的光子产生载流子,其中所述放大区(i)包括结
(i),在所述结(i)中具有结电场(i),其中所述结电场(i)的值足以引起进入所述放大区(i)的载流子的雪崩,但不足以使所述雪崩自我维持,并且其中所述结
(i),i=1,…,N,是离散的,(b)辐射源,以及(c)光学系统,所述方法包括:使用所述辐射源在时间点T1a发射第一照明光子的第一脉冲;对于i=1,…,N,测量从T1a到时间点T1b(i)的飞行时间(1,i),在所述时间点T1b(i),所述第一照明光子中的一个光子从对应于所述雪崩光电二极管(i)的目标物体的表面光点(1,i)反弹后,通过所述光学系统返回所述雪崩光电二极管(i);对于i=1,…,N,基于所述飞行时间(1,i),确定从所述设备到所述表面光点(1,i)的光点距离(1,i);使用所述辐射源在时间点T2a发射第二照明光子的第二脉冲;对于j=1,…,N,测量从T2a到时间点T2b(j)的飞行时间(2,j),在所述时间点T2b(j),所述第二照明光子中的一个光子从对应于所述雪崩光电二极管(j)的目标物体的表面光点(2,j)反弹后,通过所述光学系统返回所述雪崩光电二极管(j);对于j=1,…,N,基于所述飞行时间(2,j),确定从所述设备到所述表面光点(2,j)的光点距离;并且对于k=1,…,N,比较所述光点距离(1,k)与所述光点距离(2,k)。
根据实施例,对于k=1,…,N,所述的比较所述光点距离(1,k)和所述光点距离(2,k)包括确定距离变化(k),所述距离变化(k)是所述光点距离(1,k)和所述光点距离(2,k)之间的差。
根据实施例,所述方法进一步包括识别其绝对值超过预定正阈值的所述距离变化(k),k=1,…,N,的距离变化。
根据实施例,所述方法进一步包括确定所述被识别的所述距离变化(k),k=1,…,N,的距离变化是否总体上具有人体的大小和形状。
根据实施例,对于i=1,…,N,在所述吸收区(i)中的吸收区电场(i)没有高到足以在所述吸收区(i)中引起雪崩效应。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳源光科技有限公司,未经深圳源光科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201980098331.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。