[发明专利]用于对准基板的方法和装置在审
申请号: | 201980102653.1 | 申请日: | 2019-12-10 |
公开(公告)号: | CN114730719A | 公开(公告)日: | 2022-07-08 |
发明(设计)人: | J·克罗尔 | 申请(专利权)人: | EV集团E·索尔纳有限责任公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 卢江;刘春元 |
地址: | 奥地利圣*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 对准 方法 装置 | ||
1.一种用于对准基板(14、20)的方法,其中
- 进行对准标志(12、15、16)的检测,且
- 依据所述对准标志(12、15、16)的检测将所述基板(14、20)相对于彼此对准,
其特征在于,至少两个对准标志(12、15、16)与所述基板(14、20)的线性移动件(18a、18b)齐平地布置。
2.根据权利要求1所述的方法,其中至少三个对准标志与所述基板(14、20)的线性移动件(18a、18b)齐平地布置。
3.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其中至少一个对准标志(12、15、16)布置在基板保持器(5、6)处或上。
4.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其中至少两个对准标志(15、16)布置在基板(14、20)处且至少一个对准标志(12)布置在基板保持器(5、6)处,其中所述对准标志(12、15、16)与所述基板(14、20)的线性移动件(18a、18b)齐平地布置。
5.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其中用于检测所述对准标志(12、15、16)的检测单元(2、2’、3、3’、3w)布置在至少一个环形测量入口(21)中,优选地布置在至少一个全封闭环形测量入口(21)中。
6.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其中用于检测所述对准标志(12、15、16)的检测单元(2、2’、3、3’、3w)布置在两个环形测量入口(21)中,优选地布置在两个全封闭环形测量入口(21)中。
7.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其中用于检测所述对准标志(12、15、16)的检测单元(2、2’、3、3’、3w)布置在环形测量入口(21)中,优选地布置在全封闭环形测量入口(21)中、并且布置C形柱中。
8.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其中所述对准沿着唯一的对准轴进行,其中该对准轴平行于所述基板(14、20)的装载和卸载方向延伸。
9.一种用于对准基板(14、20)且用于实行根据前述权利要求中任一项所述的方法的装置(1、1’),其中能够实行对准标志(12、15、16)的检测且能够依据所述对准标志(12、15、16)的检测将所述基板(14、20)相对于彼此对准,其特征在于,至少两个对准标志(12、15、16)与所述基板(14、20)的线性移动件(18a、18b)齐平地布置。
10.根据权利要求9所述的装置(1、1’),其中至少三个对准标志(12、15、16)与所述基板(14、20)的线性移动件(18a、18b)齐平地布置。
11.根据上述权利要求中任一项所述的装置(1、1’),其中至少一个对准标志(12、15、16)布置在基板保持器(5、6)处或上。
12.根据上述权利要求中任一项所述的装置(1、1’),其中至少两个对准标志(15、16)布置在基板(14、20)处且至少一个对准标志(12)布置在基板保持器(5、6)处,其中所述对准标志(12、15、16)与所述基板(14、20)的线性移动件(18a、18b)齐平地布置。
13.根据上述权利要求中任一项所述的装置(1、1’),其中用于检测所述对准标志(12、15、16)的检测单元(2、2’、3、3’、3w)布置在至少一个环形测量入口(21)中,优选地布置在至少一个全封闭环形测量入口(21)中。
14.根据上述权利要求中任一项所述的装置(1、1’),其中用于检测所述对准标志(12、15、16)的检测单元(2、2’、3、3’、3w)布置在两个环形测量入口(21)中,优选地布置在两个全封闭环形测量入口(21)中。
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