[发明专利]一种测量太阳方位的方法有效
申请号: | 202010000122.6 | 申请日: | 2020-01-01 |
公开(公告)号: | CN110986870B | 公开(公告)日: | 2021-09-28 |
发明(设计)人: | 彭小云;顾少云 | 申请(专利权)人: | 顾少云 |
主分类号: | G01C1/00 | 分类号: | G01C1/00;G01J1/02;G01J1/42;B08B1/02 |
代理公司: | 北京汇捷知识产权代理事务所(普通合伙) 11531 | 代理人: | 于武贵 |
地址: | 518100 广东省深圳市宝安*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测量 太阳 方位 方法 | ||
1.一种测量太阳方位的方法,其基于太阳方位测量传感器,其特征在于:所述太阳方位测量传感器包括底座(1)、垂直固定在底座(1)上的支柱(2)以及设在支柱(2)上的水平固定轴(3);
所述水平固定轴(3)上设有圆形基座,所述圆形基座上表面设有投影针(4);所述投影针(4)垂直于所述圆形基座的上表面;所述投影针(4)采用不透明材料制成,其底端固定于所述圆形基座上表面的圆心处;
所述圆形基座上表面环绕所述投影针(4)设有环形光敏电阻阵列(5),所述环形光敏电阻阵列(5)由串联排布在环形基板(5.1)上的N个编号为1~N的光敏电阻(5.2)组成;所述环形基板(5.1)上相邻的光敏电阻(5.2)相互接触;所述环形光敏电阻阵列(5)排布在环形基板(5.1)上的光敏电阻(5.2)可选任意起点按照顺时针或者逆时针顺序依次编号为1~N;
每个光敏电阻(5.2)的中心到所述投影针(4)轴线的距离均为R,其与所述投影针(4)长度L和外径d以及所述光敏电阻(5.2)的半径r之间的关系为R≤(L+d+2r)/2,其中,4r≤d≤6r;
所述水平固定轴(3)上设有可绕其旋转的透明球形罩(6),所述透明球形罩(6)包围所述圆形基座及所述投影针(4)并不与它们接触;
所述透明球形罩(6)的球心位于所述水平固定轴(3)的轴线上,所述透明球形罩(6)的一端外壁固定设有与所述水平固定轴(3)同轴且可转动配合的空心齿轮(6.1);
所述支柱(2)上设有可相对其旋转的风杯(7),所述风杯(7)转轴的轴线与所述空心齿轮(6.1)轴线平行,且所述风杯(7)转轴末端设有与所述空心齿轮(6.1)啮合的驱动齿轮(7.1);
所述圆形基座内部设有与N个串联光敏电阻(5.2)电连接的电压采样模块(8),所述电压采样模块(8)通过单片机采样编号为1~N的光敏电阻(5.2)两端的模数转换电压V1~VN并保存在单片机寄存器中,所述电压采样模块(8)通过贯穿所述水平固定轴(3)的总线与设于支柱(2)上的总线接口(9)电连接;
所述底座(1)上设有与所述透明球形罩(6)下半球接触的弧形毛刷(10),所述弧形毛刷(10)的两端连线与所述水平固定轴(3)的轴线平行;
测量太阳方位的方法具体如下:
1)将所述太阳方位测量传感器置于室外水平面上并通过总线接口(9)供电,外部MCU通过总线接口(9)与其连接并读取所述电压采样模块(8)采样到的编号为1~N的光敏电阻(5.2)两端的对应的模数转换电压V1~VN;多次读取V1~VN并分别求取V1~VN的平均值EV1~EVN;
2)比较EV1~EVN的大小,得到最大值EVm,其中m属于1~N之一,即光敏电阻(5.2)的编号;计算如果则由编号为m的光敏电阻(5.2)中心指向所述投影针(4)下端部中心的矢量指示出了太阳的方位,其中为可调节的灵敏度系数;如果传感器输出无效值,代表未识别出太阳方位。
2.根据权利要求1所述的测量太阳方位的方法,其特征在于:所述环形光敏电阻阵列(5)每个光敏电阻(5.2)的伏安特性曲线和光照特性曲线相同。
3.根据权利要求1所述的测量太阳方位的方法,其特征在于:所述投影针(4)采用石墨或者黑色金属材料制成。
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