[发明专利]一种(100)择优取向的PMN-PZT/PZT异质结构薄膜的制备方法有效

专利信息
申请号: 202010000374.9 申请日: 2020-01-02
公开(公告)号: CN111081864B 公开(公告)日: 2021-05-07
发明(设计)人: 邹赫麟;王兴 申请(专利权)人: 大连理工大学
主分类号: H01L41/18 分类号: H01L41/18;H01L41/37;C23C14/02;C23C14/08;C23C14/35
代理公司: 大连理工大学专利中心 21200 代理人: 隋秀文;温福雪
地址: 116024 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 一种 100 择优取向 pmn pzt 结构 薄膜 制备 方法
【说明书】:

发明公开一种(100)择优取向的PMN‑PZT/PZT异质结构薄膜的制备方法,属于压电薄膜材料制备领域。步骤包括:1)种子层制备。将钛酸四丁酯加入乙酰丙酮溶液,待混合液澄清后加入硝酸锆和乙酸铅,然后加入溶剂乙二醇甲醚,最后再加入甲酰胺作为稳定剂,制备种子层前驱体溶液,将种子层前驱体溶液沉积在Pt/Ti/SiO2/Si衬底上,经热处理后得到PZT种子层;2)通过射频磁控溅射在种子层上交替沉积PZT和PMN‑PZT,形成异质界面数量为奇数的PMN‑PZT/PZT异质结构薄膜。采用本发明方法能够制得(100)择优取向且电性能优异的PMN‑PZT/PZT异质结构薄膜。

技术领域

本发明属于压电材料薄膜制备领域,涉及一种(100)择优取向的PMN-PZT/PZT异质结构薄膜的制备方法。

背景技术

锆钛酸铅(简称PZT)压电薄膜属于ABO3型钙钛矿结构化合物,具备优良的介电、压电和铁电性能,已经广泛应用于传感检测装置、随机存储装置以及微机械执行机构当中。制备PZT压电薄膜有多种方法:如水热法、脉冲激光沉积法、金属有机气相沉积法、射频磁控溅射法以及溶胶凝胶法等,其中射频磁控溅射法具有成膜表面均匀、沉积速率可控、周期短、杂质少,适用于大面积沉积等诸多优点而广泛采用。

众所周知,相比(111)优选取向和多晶PZT薄膜,(100)择优取向的PZT薄膜具有更好的压电性能,适合作为驱动元件而应用于微执行机构当中。为提高(100)择优取向度,研究者们多在衬底上先沉积如PbO、SrRuO3、LaNiO3等种晶层,以此引导PZT薄膜沿(100)晶向生长,然而上述方法制备周期长且价格昂贵,不利于压电薄膜的实际生产和应用。

另外,欲提高薄膜电性能,研究人员常常通过制作不同组份或不同种类薄膜,形成多层异质结构,改善薄膜电学性能。B.He等利用脉冲激光沉积法将BaTiO3和Pb(Zr0.52Ti0.48)O3薄膜交替沉积在Nb掺杂的SrTiO3单晶衬底上,BaTiO3/Pb(Zr0.52Ti0.48)O3铁电异质界面的存在导致薄膜的漏电与铁电性能显著改善。因此继续探索新的材料结构组合,改善薄膜性能并挖掘异质界面作用机制仍然值得进一步研究。

发明内容

为解决上述问题,本发明提供一种(100)择优取向的PMN-PZT/PZT(铌镁酸铅-锆钛酸铅/锆钛酸铅)异质结构薄膜的制备方法,首先在Pt/Ti/SiO2/Si衬底上沉积锆钛酸铅种子层,然后通过溅射工艺制备0.3Pb(Mg1/3Nb2/3)O3-0.7Pb(Zr,Ti)O3/Pb(Zr,Ti)O3异质结构薄膜,得到(100)择优取向且电性能优异的压电薄膜,并研究了异质界面数量对薄膜微观结构与电性能的影响。

本发明的技术方案:

一种(100)择优取向的PMN-PZT/PZT异质结构薄膜的制备方法,包括如下步骤:

步骤1)、将钛酸四丁酯加入乙酰丙酮溶液中,待混合液澄清后加入乙酸铅和硝酸锆,再加入溶剂乙二醇甲醚,最后加入甲酰胺作为稳定剂,制备化学式为Pb1.20(Zr0.52Ti0.48)O3的种子层前驱体溶液;然后将种子层前驱体溶液沉积在Pt/Ti/SiO2/Si衬底上,经热处理后得到PZT种子层。

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