[发明专利]一种显示基板及其制作方法、显示装置

说明书

本发明提供一种显示基板及其制作方法、显示装置，涉及显示技术领域，为解决在利用测试电路对显示产品进行测试时，显示区域接收到的测试信号均一性较差，导致测试的准确率较低的问题。所述显示基板中测试电路中的第一测试信号线沿第二方向延伸，第二测试信号线包括沿第一方向延伸的第一部分和沿第二方向延伸的第二部分；第二测试信号线的第一部分沿垂直于第一方向的方向上的宽度，与第一测试信号线沿垂直于第二方向上的宽度不同；第二测试信号线的第二部分沿垂直于第二方向的方向上的宽度，与第一测试信号线沿垂直于第二方向上的宽度不同；第一测试信号线的电阻和第二测试信号线的电阻之间的差值小于第一阈值。本发明提供的显示基板用于显示。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示基板及其制作方法、显示装置。

背景技术

有源矩阵有机发光二极管(英文：Active-matrix organic light-emittingdiode，简称：AMOLED)显示产品，以其自发光、高对比度、低功耗等优点在社会生活中得到广泛应用。然而，相较于液晶显示产品而言，AMOLED显示产品受限于生产工艺流程复杂及产品良率较低，使得AMOLED显示产品的生产成本普遍较高；因此，为了提升AMOLED显示产品的生产良率，相关技术中一般在显示产品中设置测试电路，通过测试电路对生产过程中得到的中间产品的性能及时测试，这样不仅有助于对产品不良问题的及时解决，还有助于提高产品的生产良率，同时也节省了生产时间、降低了生产成本、提高了效率。

但是相关技术中在利用测试电路对显示产品进行测试时，在通过测试电路向显示产品的显示区域提供相同的测试信号时，显示产品的显示区域接收到的测试信号均一性较差，从而影响对显示产品测试的准确率。

发明内容

本发明的目的在于提供一种显示基板及其制作方法、显示装置，用于解决相关技术中，在利用测试电路对显示产品进行测试时，显示产品的显示区域接收到的测试信号均一性较差，导致对显示产品测试的准确率较低的问题。

为了实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

本发明的第一方面提供一种显示基板，包括：显示区域和位于所述显示区域周边的非显示区域，所述显示基板还包括位于所述非显示区域的测试结构，所述测试结构包括沿第一方向排布的多个测试电路，每个所述测试电路均包括：

多条测试信号线，所述多条测试信号线包括第一测试信号线和第二测试信号线，所述第一测试信号线沿第二方向延伸，所述第二测试信号线包括沿所述第一方向延伸的第一部分和沿第二方向延伸的第二部分，所述第二方向与所述第一方向相交；

所述第二测试信号线的第一部分沿垂直于所述第一方向的方向上的宽度，与所述第一测试信号线沿垂直于所述第二方向上的宽度不同；所述第二测试信号线的第二部分沿垂直于所述第二方向的方向上的宽度，与所述第一测试信号线沿垂直于所述第二方向上的宽度不同；所述第一测试信号线的电阻和所述第二测试信号线的电阻之间的差值小于第一阈值。

可选的，所述第二测试信号线的第一部分沿垂直于所述第一方向的方向上的宽度，小于所述第二测试信号线的第二部分沿垂直于所述第二方向上的宽度；所述第一测试信号线沿垂直于所述第二方向上的宽度，小于所述第二测试信号线的第二部分沿垂直于所述第二方向的方向上的宽度。

可选的，每个所述测试电路还包括：第一测试子电路，所述第一测试子电路包括：

第一测试单元，所述第一测试单元在所述显示基板的基底上的正投影，位于所述第一测试信号线在所述基底上的正投影，与所述第二测试信号线在所述基底上的正投影之间；所述第一测试单元的输出端与所述第一测试信号线耦接，用于分时向所述第一测试信号线输出第一画面测试信号和第二画面测试信号；