[发明专利]一种低复杂度高精度的快速介质损耗角测量方法在审
申请号: | 202010003172.X | 申请日: | 2020-01-02 |
公开(公告)号: | CN111044790A | 公开(公告)日: | 2020-04-21 |
发明(设计)人: | 雷可君;汪旭明;杨喜;张仁民;张银行 | 申请(专利权)人: | 吉首大学 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26 |
代理公司: | 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 | 代理人: | 沈廉 |
地址: | 416000 湖南省湘西*** | 国省代码: | 湖南;43 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 复杂度 高精度 快速 介质 损耗 测量方法 | ||
1.一种低复杂度高精度的快速介质损耗角测量方法,其特征在于该方法先在时域中对采样的电流和电压信号进行傅里叶变换FFT;然后通过对电流和电压信号的谱序列分别进行简单的加权变换得到新的谱序列;再利用新的电流和电压谱序列分别得到相应的电流和电压信号的基波相位角的估计值;最后利用估计得到的基波相位角来计算出介质损耗角δ;具体包括以下步骤:
步骤一、利用电流互感器从电气设备中获取电流信号利用电压互感器从电气设备中获取电压信号其中,m为谐波次数,M为总的谐波次数,im和um分别表示为第m次电流和电压信号谐波的幅度,φim和φum分别表示第m次电流和电压信号谐波的相位,f0基波频率;
步骤二、对电流信号i(t)离散化后进行FFT处理得到相应的输出谱序列{I(n)},其中,0≤n≤N-1,N是采样点数,n表示{I(n)}中第n个元素的序号;对电压信号u(t)离散化后进行FFT处理得到相应的输出谱序列{U(n)};
步骤三、对{I(n)}作序列变换得到新的谱序列{Io(n)},同时对{U(n)}作序列变换得到新的谱序列{Uo(n)};
步骤四、在{Io(n)}中搜寻基波频率附近最大两根谱线Io(ki)和Io(ki+1),求出比值其中,ki和ki+1为{Io(n)}中基波频率附近两根最大谱线对应的位置;同时在{Uo(n)}中搜寻基波频率附近最大两根谱线Uo(ku)和Uo(ku+1),求出比值其中,ku和ku+1为{Uo(n)}中基波频率附近两根最大谱线对应的位置;
步骤五、根据式求出电流信号中基波频率的偏移量Δki;同时根据式求出电压信号中基波频率的偏移量Δku;
步骤六、在电流谱序列中利用Io(ki)的相位和偏移量计算得到电流信号的基波相位φi1=arg(Io(ki))-Δkiπ,同时在电压谱序列中利用Uo(ku)的相位和偏移量计算得到电压信号的基波相位φu1=arg(Uo(ku))-Δkuπ,这里arg(Io(ki))和arg(Uo(ku))分别表示Io(ki)和Uo(ku)的相位;
步骤七、通过φi1和φu1可以计算介质损耗角δ,其计算公式为
2.根据权利要求1所述的一种低复杂度高精度的快速介质损耗角测量方法,其特征在于,步骤三所述的电流信号谱序列变换公式为:其中,{I(n-i)}和{I(n+i)}分别为{I(n)}右移i位和左移i位后得到的谱序列,b0=1/14400,b1=-1/17280,b2=1/30240,b3=-1/80640,b4=1/362880,b5=-1/3628800。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于吉首大学,未经吉首大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010003172.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种炼焦炉及炼焦系统
- 下一篇:一种炼焦炉的炭化室-燃烧室结构以及炼焦炉