[发明专利]一种桥式传感器的参数调试方法及系统

说明书

本发明实施例提供了一种桥式传感器的参数调试方法及系统，通过获取待调试的桥式传感器的测试数据，并根据测试数据，以及待调试的桥式传感器对应的已调试测试项目的信息，生成待调试测试项目的信息，然后根据已调试测试项目的信息确定已调试测试项目参数序列在桥式传感器中的参数路经，以及根据待调试测试项目的信息确定待调试测试项目参数序列在桥式传感器中的参数路经，从而根据已调试测试项目参数序列在桥式传感器中的参数路经，以及待调试测试项目参数序列在桥式传感器中的参数路经中生成桥式传感器的调试参数。如此，考虑到根据测试数据来区分每个测试项目的调试情况，进而提高测试过程的效率，减少对桥式传感器的时间成本。

技术领域

本发明涉及传感器技术领域，具体而言，涉及一种桥式传感器的参数调试方法及系统。

背景技术

目前在对桥式传感器进行测试过程中，通常是对整体所有的测试项目进行调试，没有考虑到根据测试数据来区分每个测试项目的调试情况，进而导致测试过程效率低下，并且提高桥式传感器的时间成本上。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例的目的在于提供一种桥式传感器的参数调试方法及系统，考虑到根据测试数据来区分每个测试项目的调试情况，进而提高测试过程的效率，减少对桥式传感器的时间成本。

根据本发明实施例的一个方面，提供一种桥式传感器的参数调试方法，应用于调试设备，所述方法包括：

获取待调试的桥式传感器的测试数据；

根据所述测试数据，以及待调试的桥式传感器对应的已调试测试项目的信息，生成待调试测试项目的信息，其中，所述已调试测试项目的信息包括已调试测试项目参数序列和对应参数路经，所述待调试测试项目的信息包括待调试测试项目参数序列和对应参数路经；

根据所述已调试测试项目的信息确定已调试测试项目参数序列在桥式传感器中的参数路经，以及根据所述待调试测试项目的信息确定待调试测试项目参数序列在所述桥式传感器中的参数路经；

根据已调试测试项目参数序列在桥式传感器中的参数路经，以及待调试测试项目参数序列在所述桥式传感器中的参数路经中生成所述桥式传感器的调试参数。

在一种可能的示例中，所述根据所述测试数据，以及待调试的桥式传感器对应的已调试测试项目的信息，生成待调试测试项目的信息的信息的步骤，包括：

对所述测试数据进行测试参数提取，得到测试参数序列；

对所述已调试测试项目的信息进行测试参数提取，得到所述已调试测试项目的测试项目特征；

将所述测试参数序列和所述已调试测试项目的测试项目特征输入预先训练的调试模型中，得到所述待调试测试项目的信息。

在一种可能的示例中，所述根据所述测试数据，以及待调试的桥式传感器对应的已调试测试项目的信息，生成待调试测试项目的信息的信息的步骤，还进一步包括：

将所述调试模型本次输出的待调试测试项目的信息进行测试参数提取得到的测试项目特征，以及将所述测试参数序列输入所述调试模型中，得到所述调试模型本次输出的待调试测试项目的信息，直至所述调试模型输出最后一个测试项目的信息为止。

在一种可能的示例中，所述根据所述测试数据，以及待调试的桥式传感器对应的已调试测试项目的信息，生成待调试测试项目的信息的信息的步骤，还进一步包括：

获取用于调整参数的目标桥式传感器的样本测试数据，以及所述目标桥式传感器对应的各训练测试项目；

根据各训练测试项目在所述目标桥式传感器中的参数路经，以及各训练测试项目参数序列生成各训练测试项目的信息；