[发明专利]一种降低矿井爆破粉尘和有害气体浓度的布局结构及方法有效
申请号: | 202010004744.6 | 申请日: | 2020-01-03 |
公开(公告)号: | CN111023931B | 公开(公告)日: | 2022-06-28 |
发明(设计)人: | 谢承煜;曹杰;巢磊;张孝强;石东平;刘国军;王新丰;何利文;鹿浩 | 申请(专利权)人: | 湘潭大学 |
主分类号: | F42D1/00 | 分类号: | F42D1/00;F42D3/04;F42D5/00 |
代理公司: | 北京细软智谷知识产权代理有限责任公司 11471 | 代理人: | 王文雅 |
地址: | 4111*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 降低 矿井 爆破 粉尘 有害 气体 浓度 布局 结构 方法 | ||
1.一种降低矿井爆破粉尘和有害气体浓度的布局结构,其特征在于,包括
第一水袋,其内注有水和发泡剂,所述第一水袋分布在矿井内爆破区域的地面上,所述第一水袋的一侧设置有第一炸药袋;
氢氧化钙溶液袋,也分布在矿井内爆破区域的地面上;
炮孔,在矿井内爆破区域的地面上向地下钻孔形成所述炮孔,所述炮孔分布在矿井内爆破区域的地面上,所述炮孔内填充有第二水袋和第二炸药袋,所述第二水袋内也注有水和发泡剂;
氧化钙粉,涂抹在矿井内爆破区域的侧壁上;及
引爆装置,与所述第一炸药袋和第二炸药袋相连用于将第一炸药袋和第二炸药袋同时引爆。
2.根据权利要求1所述的降低矿井爆破粉尘和有害气体浓度的布局结构,其特征在于,所述第一水袋、第二水袋和氢氧化钙溶液袋由PEX涂层布制成,所述第一水袋、第二水袋和氢氧化钙溶液袋的厚度为0.2mm-1.2mm,所述第一水袋、第二水袋和氢氧化钙溶液袋为圆柱体状,所述第一水袋和氢氧化钙溶液袋的横截面直径为200mm-350mm,其长度为1m-3m。
3.根据权利要求2所述的降低矿井爆破粉尘和有害气体浓度的布局结构,其特征在于,所述第一水袋和氢氧化钙溶液袋连续交替地设置在所述矿井内爆破区域的地面上,所述第一水袋和氢氧化钙溶液袋的长度方向与矿井内爆破区域的宽度方向同向,所述第一水袋压设在所述第一炸药袋上。
4.根据权利要求3所述的降低矿井爆破粉尘和有害气体浓度的布局结构,其特征在于,所述炮孔均匀分布在相邻所述第一水袋和氢氧化钙溶液袋之间。
5.根据权利要求1或4所述的降低矿井爆破粉尘和有害气体浓度的布局结构,其特征在于,所述第二炸药袋位于所述炮孔的下部,所述第二水袋位于所述炮孔的上部,所述炮孔的开口处注水以形成水封。
6.根据权利要求1所述的降低矿井爆破粉尘和有害气体浓度的布局结构,其特征在于,所述引爆装置包括雷管、导爆管和引线,所述雷管设置在所述第一炸药袋和第二炸药袋上,所述导爆管与所述雷管相接,所述引线与所述导爆管相接且引线的另一端延伸至矿井外。
7.根据权利要求1所述的降低矿井爆破粉尘和有害气体浓度的布局结构,其特征在于,所述第一水袋和第二水袋中的发泡剂的质量分数为1%-3%。
8.根据权利要求1所述的降低矿井爆破粉尘和有害气体浓度的布局结构,其特征在于,所述氧化钙粉的涂抹密度比为1比1.2,所述涂抹密度比为1比1.2为氧化钙粉的总质量与矿井内爆破区域的空间体积的商为1.2,即矿井内爆破区域内的氧化钙粉的密度为1.2kg/m³。
9.根据权利要求1所述的降低矿井爆破粉尘和有害气体浓度的布局结构,其特征在于,所述第一炸药袋和第二炸药袋内的炸药质量为0.2kg-0.5kg。
10.一种降低矿井爆破粉尘和有害气体浓度的方法,包括以下步骤:
S1,向第一水袋和第二水袋内注入水和发泡剂,向氢氧化钙溶液袋内注入氢氧化钙溶液;
S2,在矿井的爆破区域的侧壁上涂抹氧化钙粉;
S3,在矿井的爆破区域的地面上做连续交替的第一标记和第二标记,在第一标记和第二标记之间钻孔以形成炮孔;
S4,将第二炸药袋和引爆装置放置在炮孔的底部,随后将第二水袋放置在第二炸药袋的上方,最后向炮孔内注水以形成水封;
S5,在第一标记上放置第一炸药袋和引爆装置,并将第一水袋和氢氧化钙溶液袋分别放置在第一标记和第二标记上且第一水袋压设在第一炸药袋上。
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