[发明专利]预应力结构残余应力的检测分析方法

权利要求书

1.一种预应力结构残余应力的检测分析方法，其特征在于，包括以下步骤：

利用MIDAS软件建立预应力结构的预应力筋的张拉力与所述预应力结构的应力值的计算模型；

测定所述预应力结构的待测位点的现有预应力值，所述测定所述预应力结构的待测位点的现有预应力值包括于所述预应力结构上布置所述待测位点；于所述待测位点钻孔形成应力释放孔；提供光纤光栅传感器，将所述光纤光栅传感器安装于所述应力释放孔中以测定所述待测位点的现有预应力值；在所述将所述光纤光栅传感器安装于所述应力释放孔中的步骤后，提供胶液，将所述胶液涂覆于安装于所述应力释放孔中的所述光纤光栅传感器的光纤纤芯的外部以固结形成隔热包层，进而屏蔽温度对所述光纤纤芯的影响；

根据所述现有预应力值和所述计算模型，计算获得所述预应力筋的现存张拉力值；

根据所述现存张拉力值和所述计算模型，计算获得所述预应力结构的其它位置的现有预应力值。

2.根据权利要求1所述的预应力结构残余应力的检测分析方法，其特征在于，所述根据所述现有预应力值和所述计算模型，计算获得所述预应力筋的现存张拉力值的步骤包括：

根据所述现有预应力值，调整所述计算模型中的所述预应力筋的张拉力值的大小，使得所述计算模型中与所述待测位点的位置相对应的模型位点的模拟预应力值与所述待测位点的所述现有预应力值相吻合。

3.根据权利要求2所述的预应力结构残余应力的检测分析方法，其特征在于，所述待测位点的数量为多个，当多个所述待测位点的所述现有应力与对应位置的所述模型位点的模拟预应力值的平均吻合度达到98％～102％，则判定所述模型位点的模拟预应力值与所述待测位点的所述现有预应力值相吻合。

4.根据权利要求3所述的预应力结构残余应力的检测分析方法，其特征在于，所述吻合度的计算公式：