[发明专利]一种MIS-硅异质结太阳电池及其制备方法有效
申请号: | 202010009879.1 | 申请日: | 2020-01-06 |
公开(公告)号: | CN111211194B | 公开(公告)日: | 2021-12-03 |
发明(设计)人: | 汤叶华;王科范 | 申请(专利权)人: | 河南大学 |
主分类号: | H01L31/062 | 分类号: | H01L31/062;H01L31/0224;H01L31/0216;H01L31/18 |
代理公司: | 郑州联科专利事务所(普通合伙) 41104 | 代理人: | 张丽 |
地址: | 475001*** | 国省代码: | 河南;41 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 mis 硅异质结 太阳电池 及其 制备 方法 | ||
1.一种MIS-硅异质结太阳电池,其特征在于,按从上到下,所述MIS-硅异质结太阳电池结构依次为:前表面载流子传输层、前表面钝化层、半导体吸收层、背表面钝化层、背表面载流子传输层,所述前表面载流子传输层由前表面栅线电极、前表面透明导电膜和前表面载流子传输膜构成;所述前表面钝化层由前表面遂穿层构成;所述背表面钝化层由背表面遂穿层构成;所述背表面载流子传输层由背表面载流子传输膜、背表面透明导电膜和背表面电极构成;所述半导体吸收层为n型单晶硅片,经酸溶液抛光20-60s,体积比计,酸溶液组成为:58wt%-硝酸:40wt%-氢氟酸:99.5wt%-冰乙酸=5:3:3,并用去离子水喷淋5分钟,使硅片表面干净;然后将硅片浸泡在120℃发烟硝酸溶液中进行湿法化学氧化10-20分钟,使硅片前后表面形成一薄层超薄氧化硅膜层,其中前表面的超薄氧化硅为前表面遂穿层,厚度1.5nm,背表面的超薄氧化硅为背表面遂穿层,厚度1.5 nm;
再将硅片用去离子水冲洗干净,并用高纯氮气充分吹干后备用,或者烘干后备用;将吹干或者烘干的硅片放置在原子层沉积腔体中,在前表面遂穿层沉积氧化钼层为前表面载流子传输膜,其厚度为7 nm;背表面遂穿层沉积氧化钛为背表面载流子传输膜,其厚度为10nm;然后将制备好遂穿层、载流子传输层的硅片放置在磁控溅射腔体,在前表面沉积铟锡氧化物为前表面透明导电膜,厚度70nm;在背表面沉积氧化锌透明导电膜,为背表面透明导电膜,厚度为120 nm;
最后将制备好遂穿膜、载流子传输层和透明导电膜的硅片放在热蒸发腔体内,采用掩膜版栅线宽度为20微米的掩膜方式在前表面沉积栅线银电极为前表面栅线电极,厚度为100 nm;背表面蒸发铝膜层为背表面电极,厚度为1000 nm。
2.根据权利要求1所述的MIS-硅异质结太阳电池,其特征在于,硅片用冷热去离子水浸泡清洗时,冷去离子水温度为室温;热去离子水温度为70-100℃;氧化钼层具体沉积参数为:硅片温度为100℃、腔体压强为7.5 × 10-3mTorr,源为(NtBu)2(NMe2)2Mo,循环75次;氧化钛沉积参数为:硅片温度为100℃、腔体压强为7.5 × 10-3 mTorr,源为TDMAT,循环75次;铟锡氧化物沉积参数为:ITO作为靶材,硅片温度200度,腔体压强8 × 10-4 Pa,10分钟;氧化锌透明导电膜的沉积参数为:氧化锌作为靶材,硅片温度200℃,腔体压强5 × 10-3 Pa,25分钟;栅线银电极的面积覆盖率10%;栅线银电极的沉积参数:硅片温度200℃,腔体压强1× 10-4 Pa,20分钟。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于河南大学,未经河南大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010009879.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的