[发明专利]一种MIS-硅异质结太阳电池及其制备方法有效

专利信息
申请号: 202010009879.1 申请日: 2020-01-06
公开(公告)号: CN111211194B 公开(公告)日: 2021-12-03
发明(设计)人: 汤叶华;王科范 申请(专利权)人: 河南大学
主分类号: H01L31/062 分类号: H01L31/062;H01L31/0224;H01L31/0216;H01L31/18
代理公司: 郑州联科专利事务所(普通合伙) 41104 代理人: 张丽
地址: 475001*** 国省代码: 河南;41
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摘要:
搜索关键词: 一种 mis 硅异质结 太阳电池 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种MIS-硅异质结太阳电池,其特征在于,按从上到下,所述MIS-硅异质结太阳电池结构依次为:前表面载流子传输层、前表面钝化层、半导体吸收层、背表面钝化层、背表面载流子传输层,所述前表面载流子传输层由前表面栅线电极、前表面透明导电膜和前表面载流子传输膜构成;所述前表面钝化层由前表面遂穿层构成;所述背表面钝化层由背表面遂穿层构成;所述背表面载流子传输层由背表面载流子传输膜、背表面透明导电膜和背表面电极构成;所述半导体吸收层为n型单晶硅片,经酸溶液抛光20-60s,体积比计,酸溶液组成为:58wt%-硝酸:40wt%-氢氟酸:99.5wt%-冰乙酸=5:3:3,并用去离子水喷淋5分钟,使硅片表面干净;然后将硅片浸泡在120℃发烟硝酸溶液中进行湿法化学氧化10-20分钟,使硅片前后表面形成一薄层超薄氧化硅膜层,其中前表面的超薄氧化硅为前表面遂穿层,厚度1.5nm,背表面的超薄氧化硅为背表面遂穿层,厚度1.5 nm;

再将硅片用去离子水冲洗干净,并用高纯氮气充分吹干后备用,或者烘干后备用;将吹干或者烘干的硅片放置在原子层沉积腔体中,在前表面遂穿层沉积氧化钼层为前表面载流子传输膜,其厚度为7 nm;背表面遂穿层沉积氧化钛为背表面载流子传输膜,其厚度为10nm;然后将制备好遂穿层、载流子传输层的硅片放置在磁控溅射腔体,在前表面沉积铟锡氧化物为前表面透明导电膜,厚度70nm;在背表面沉积氧化锌透明导电膜,为背表面透明导电膜,厚度为120 nm;

最后将制备好遂穿膜、载流子传输层和透明导电膜的硅片放在热蒸发腔体内,采用掩膜版栅线宽度为20微米的掩膜方式在前表面沉积栅线银电极为前表面栅线电极,厚度为100 nm;背表面蒸发铝膜层为背表面电极,厚度为1000 nm。

2.根据权利要求1所述的MIS-硅异质结太阳电池,其特征在于,硅片用冷热去离子水浸泡清洗时,冷去离子水温度为室温;热去离子水温度为70-100℃;氧化钼层具体沉积参数为:硅片温度为100℃、腔体压强为7.5 × 10-3mTorr,源为(NtBu)2(NMe2)2Mo,循环75次;氧化钛沉积参数为:硅片温度为100℃、腔体压强为7.5 × 10-3 mTorr,源为TDMAT,循环75次;铟锡氧化物沉积参数为:ITO作为靶材,硅片温度200度,腔体压强8 × 10-4 Pa,10分钟;氧化锌透明导电膜的沉积参数为:氧化锌作为靶材,硅片温度200℃,腔体压强5 × 10-3 Pa,25分钟;栅线银电极的面积覆盖率10%;栅线银电极的沉积参数:硅片温度200℃,腔体压强1× 10-4 Pa,20分钟。

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