[发明专利]一种多轴伺服驱动系统的抱闸检测电路

说明书

本发明公开了一种多轴伺服驱动系统的抱闸检测电路，涉及抱闸检测领域。该电路包括：n组并联子线路，每个所述子线路包括：第一电阻、Mos管、第一二极管、第二电阻、第一外部接线、第二外部接线、第三电阻、光耦合装置及导通装置，所述第一电阻的一端与抱闸驱动端相连，另一端与Mos管的栅极相连，所述Mos管的漏极与并联的第一外部接线的一端及第二外部接线的一端相连，所述第一外部接线的另一端及所述第二外部接线的另一端与抱闸装置相连，所述第二外部接线还依次连接了第三电阻、光耦合装置和导通装置。本发明适用于工业抱闸检测，能够解决无法确定抱闸预警原因的问题，达到节省人力并且可以准确得知具体预警原因的效果。

技术领域

本发明涉及抱闸检测领域，尤其涉及一种多轴伺服驱动系统的抱闸检测电路。

背景技术

在复杂的工业现场，电机接线磨损比较常见，因此对抱闸装置进行检测显得尤为重要，在现有技术中是根据据检测信号判断电磁抱闸的状态是否出现异常，但是不能够明确的给使用者指出是否是驱动器内部接线原因导致的抱闸异常。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是针对现有技术的不足，提供一种多轴伺服驱动系统的抱闸检测电路。

本发明解决上述技术问题的技术方案如下：一种多轴伺服驱动系统的抱闸检测电路，包括：n组并联子线路，每个所述子线路包括：第一电阻、Mos管、第一二极管、第二电阻、第一外部接线、第二外部接线、第三电阻、光耦合装置及导通装置，所述第一电阻的一端与抱闸驱动端相连，另一端与Mos管的栅极相连，所述Mos管的漏极与并联的第一外部接线的一端及第二外部接线的一端相连，所述第一外部接线的另一端及所述第二外部接线的另一端与抱闸装置相连，所述第二外部接线还依次连接了第三电阻、光耦合装置和导通装置。

本发明的有益效果是：通过上述电路可以在当抱闸出现异常时，快速通过对第三电阻的电压监控以及光耦合装置的作用锁定问题所在，提高问题解决的效率，节省现场的时间。

在上述技术方案的基础上，本发明还可以做如下改进。

进一步地，所述第二电阻还与并联连接的第三二极管的阴极及电容的一端相连，所述第三二极管的阳极与电压相连，所述电容的另一端与所述电压的0势能点相连。

采用上述进一步方案的有益效果是：通过第三二极管及电容可以有效地防止过高电压对系统造成损害，稳压二极管D3是防止钳位作用，使电压稳定在24V附近，电容是起到滤除噪声的作用。

进一步地，所述第二电阻还与第二二极管相连，所述第二二极管由两组反向串联的肖特基二极管并联组成，所述第二电阻与第一组第二二极管中的第一肖特基二极管的阴极相连，所述Mos管的漏极与第二组第二二极管中的第二肖特基二极管的阴极相连，所述第一组第二二极管的第三肖特基二极管与所述第二组第二二极管的第四肖特基二极管的阴极与电压的0势能点相连。

采用上述进一步方案的有益效果是：Mos管可变电阻也可用于放大，由于输入阻抗很高，因此耦合电容可以容量较小，不必使用电解电容器同时也可以用作开关，并且通过第二二极管可以防止过高电压。

进一步地，所述连通装置包括：依次连接的第六电阻、第五二极管及第一测试点，所述第六电阻与所述光耦合装置的第四管脚相连，所述第五二极管的阳极与所述第六电阻相连，所述第五二极管的阴极与所述第一测试点相连。

采用上述进一步方案的有益效果是：通过对第一测试点进行测试可以直接判断出抱闸装置报警的原因。

进一步地，所述连通装置还包括：第五电阻和三极管，所述光耦合装置的第三管脚与所述第五电阻相连，所述三极管的集极与所述第五电阻相连，所述三极管的集电极与所述第五二极管的阳极相连。

进一步地，所述连通装置还包括：第四二极管及第二测试点所述第四二极管的阳极与所述光耦合装置的第三管脚相连，所述第四二极管的阴极与所述第二测试点相连。