[发明专利]一种烟幕干扰效能获取方法在审
申请号: | 202010018495.6 | 申请日: | 2020-01-08 |
公开(公告)号: | CN111242912A | 公开(公告)日: | 2020-06-05 |
发明(设计)人: | 汤润泽;张承龙;卓志敏;冯杰鸿;周遵宁 | 申请(专利权)人: | 北京电子工程总体研究所 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/194;G06T7/62 |
代理公司: | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人: | 付生辉 |
地址: | 100854*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 烟幕 干扰 效能 获取 方法 | ||
1.一种烟幕干扰效能获取方法,其特征在于,包括:
分别获取测试场景在无烟幕环境下的第一红外图像和在烟幕环境下的第二红外图像;
基于所述第一红外图像生成第一靶标阵列并基于所述第二红外图像生成第二标靶阵列;
基于所述第一红外图像、所述第二红外图像、所述第一靶标阵列和第二靶标阵列生成计算模型,并计算烟幕有效遮蔽面积,以获取烟幕干扰效能。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述第一红外图像生成第一靶标阵列并基于所述第二红外图像生成第二标靶阵列进一步包括:利用图像二值化方法,基于所述第一红外图像生成第一靶标阵列并基于所述第二红外图像生成第二标靶阵列。
3.根据权利要求1所述的方法,所述基于所述第一红外图像、所述第二红外图像、所述第一靶标阵列和第二靶标阵列生成计算模型,并计算烟幕有效遮蔽面积进一步包括:
基于所述第一红外图像获取第一总辐射亮度、第一前景辐射亮度和第一背景辐射亮度,并基于所述第一靶标阵列获取第一总灰度和第一背景灰度;
基于所述第二红外图像获取第二总辐射亮度、第二前景剩余辐射亮度、第二背景剩余辐射亮度和第二烟幕剩余辐射亮度,并基于所述第二靶标阵列获取第二总灰度和第二背景烟幕灰度;
基于所述第一总辐射亮度、第一前景辐射亮度、第一背景辐射亮度、第二总辐射亮度、第二前景剩余辐射亮度、第二背景剩余辐射亮度和第二烟幕剩余辐射亮度,生成烟幕红外透过率的第一计算模型;
将所述第一计算模型中的第一总辐射亮度替换为第一总灰度、第一计算模型中的第一背景辐射亮度替换为第一背景灰度、第一计算模型中的第二总辐射亮度替换为第二总灰度以及将所述第一计算模型中的二背景烟幕辐射亮度替换为第二背景烟幕灰度,生成烟幕红外透过率的第二计算模型;
基于所述第一红外图像、所述第二红外图像和第二计算模型,计算烟幕有效遮蔽面积。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述计算烟幕有效遮蔽面积进一步包括:
基于所述第一红外图像获取第一红外图像几何图像,并基于所述第二红外图像获取第二红外图像几何图像;
基于第一红外图像几何图像和所述第二红外图像几何图像确定烟幕几何图像;
基于所述第二计算模型确定所述烟幕几何图像中每个像素点的烟幕透过率;
将每个像素点的烟幕透过率与预设烟幕透过率阈值比较,并累加所述每个像素点透过率值小于所述预设透过率阈值时的烟幕有效干扰像素点总数Nep;
基于用于采集第一红外图像和第二红外图像的红外热像仪的空间分辨率和测试距离,确定的所述第二目标图像几何图像中的所述每个像素点对应的实际面积Spi;
基于所述有效干扰像素点总数Nep和所述每个像素点对应的所述实际面积Nep确定烟幕有效干扰面积。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述基于第一红外图像几何图像和所述第二红外图像几何图像确定烟幕几何图像进一步包括:利用背景差分法,基于所述第一目标图像几何图像和所述第二目标图像几何图像确定所述烟幕几何图像。
6.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述第一计算模型计算公式为:
其中:τs1为第一计算模型的烟幕红外透过率;L1为第一总辐射亮度;Lsur为第一背景辐射亮度;L2为第二总辐射亮度;Lsur+smk为第二背景烟幕辐射亮度。
7.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述第二计算模型计算公式为:
其中:τs2为第二计算模型的烟幕红外透过率;G1为第一总灰度;Gsur为第一背景灰度;G2为第二总灰度;Gsur+smk为第二背景烟幕灰度。
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