[发明专利]一种基于房角开放距离曲线的眼前节状态表征方法及系统有效

专利信息
申请号: 202010019273.6 申请日: 2020-01-08
公开(公告)号: CN111260610B 公开(公告)日: 2023-08-01
发明(设计)人: 张晓丽;何明光;陈文光 申请(专利权)人: 上海美沃精密仪器股份有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;A61B3/117;A61B3/10
代理公司: 北京维正专利代理有限公司 11508 代理人: 谢绪宁;薛赟
地址: 201100 上海市闵行区*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 基于 开放 距离 曲线 眼前 状态 表征 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种基于房角开放距离曲线的眼前节状态表征方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1、利用眼前节切面图像,提取角膜后表面拟合曲线和虹膜前表面的拟合曲线,在角膜后表面各点处的法向方向做垂线,获取垂线与虹膜前表面相交处的垂线长度,求得角膜后表面各点和虹膜前表面各相应点之间的距离值,提取角膜后表面各点和虹膜前表面各相应点之间的距离值变化曲线,获得法向房角开放距离曲线;

S2、根据法向房角开放距离曲线,获得眼参数;

S3、根据眼参数,判断眼前节状态。

2.根据权利要求1所述基于房角开放距离曲线的眼前节状态表征方法,其特征在于,包括以下步骤:

A1、对获取的某一径向上的眼前节切面图像,进行角膜后表面曲线拟合,同时将晶体前表面填补在虹膜前表面缺失的瞳孔区域,将补充好的虹膜前表面拟合为一条连续曲线,作为虹膜前表面的拟合曲线;

A2、获取角膜后表面拟合曲线上任一点相对于角膜后表面的法线;

A3、沿法线方向作垂线,与虹膜晶体线相交,计算这条垂线上,角膜后表面的交点与虹膜晶体线的交点的长度,作为角膜后表面与虹膜晶体间的距离;

A4、得到角膜后表面上所有点分别到虹膜晶体各对应点的距离,获得所述径向角膜后表面法向房角开放距离曲线。

3.根据权利要求1所述基于房角开放距离曲线的眼前节状态表征方法,其特征在于,步骤S2中,根据法向房角开放距离曲线,获得如下参数:ARA、AOD500/AOD750、TISA500/TISA750、房角、最大前房深度、法向房深图;基于不同径向的法向房角开放距离曲线,形成三维法向房角开放距离曲面。

4.一种基于房角开放距离曲线的眼前节状态表征方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1、利用眼前节切面图像,提取角膜后表面拟合曲线和虹膜前表面的拟合曲线,基于以角膜后表面中心轴为准,从角膜后表面各点到虹膜前表面各相应点做中心轴的平行线,提取角膜后表面各点与虹膜前表面各相应点之间的距离值,得到角膜后表面所有点的距离值变化曲线,即中心轴房角开放距离曲线;

S2、根据中心轴房角开放距离曲线,获得眼参数;

S3、根据眼参数,判断眼前节状态。

5.据权利要求4所述基于房角开放距离曲线的眼前节状态表征方法,其特征在于,包括以下步骤:

B1、对获取的某一径向上的眼前节切面图像,进行角膜后表面曲线拟合,同时将晶体前表面填补在虹膜前表面缺失的瞳孔区域,将补充好的虹膜前表面拟合为一条连续曲线,作为虹膜前表面的拟合曲线;

B2、以角膜后表面对称中心轴作为中心轴;

B3、从角膜后表面各点作与中心轴平行的直线到虹膜晶体线,角膜后表面各点到虹膜晶体线相应点的距离,作为角膜后表面与虹膜晶体线之间的距离;

B3、得到角膜后表面上所有点分别到虹膜晶体各对应点的距离,获得所述径向角膜后表面中心轴房角开放距离曲线。

6.根据权利要求4所述基于房角开放距离曲线的眼前节状态表征方法,其特征在于,步骤S2中,根据中心轴房角开放距离曲线,获得如下参数:前房深度、前房宽度,前房容积;基于不同径向的房角开放距离曲线,形成前房深度图;基于不同径向的中心轴房角开放距离曲线,形成三维前房深度图。

7.根据权利要求1或4所述基于房角开放距离曲线的眼前节状态表征方法,其特征在于,在光学相干断层扫描图像OCT或者超声生物显微镜图像UBM中,以巩膜突为起点作为房角开放距离曲线的两侧端点。

8.根据权利要求1或4所述基于房角开放距离曲线的眼前节状态表征方法,其特征在于,步骤S3中,根据房角开放距离曲线的斜率,判断角膜相对于虹膜的弯曲程度,并根据所述弯曲程度,判断前房病变情况。

9.一种基于房角开放距离曲线的眼前节状态表征系统,其特征在于,包括房角开放距离曲线提取模块、眼前节的状态表征模块,采用权利要求1-8任意一项所述方法,房角开放距离曲线提取模块用于根据眼前节切面图像提取到角膜后表面和虹膜前表面之间的距离值变化曲线,即房角开放距离曲线;眼前节的状态表征模块用于根据房角开放距离曲线的各种参数值判断眼前节的状态。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海美沃精密仪器股份有限公司,未经上海美沃精密仪器股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010019273.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top