[发明专利]一种磁传感器噪声无源测试方法在审

专利信息
申请号: 202010019303.3 申请日: 2020-01-08
公开(公告)号: CN111198347A 公开(公告)日: 2020-05-26
发明(设计)人: 钱正洪;窦爱玉;朱华辰;白茹;王志强;赵潇颖 申请(专利权)人: 杭州电子科技大学
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 杭州君度专利代理事务所(特殊普通合伙) 33240 代理人: 朱亚冠
地址: 310018 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 传感器 噪声 无源 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种磁传感器噪声无源测试方法,其特征在于:包括如下步骤:

第一步:设置噪声测试系统的工作参数;

第二步:确定噪声测试系统对噪声的有效分析带宽;

第三步:采集噪声测试系统自有噪声,生成时域波形,并对该时域波形进行数据处理;

第四步:采集磁传感器热噪声和噪声测试系统自有噪声叠加在一起的总噪声,生成时域波形,并对该时域波形进行数据处理;

第五步:将第三步和第四步中经过数据处理后的时域波形转换为频域波形,提取磁传感器热噪声的噪声频谱,为磁传感器在有源情况下的噪声测试提供有效的参考。

2.根据权利要求1所述的磁传感器噪声无源测试方法,其特征在于:所述噪声测试系统包括低噪声放大器、数据采集卡和计算机。

3.根据权利要求1所述的磁传感器噪声无源测试方法,其特征在于:在第三步和第四步中,所述的数据处理过程是对采集的数据进行FFT(Fast Fourier Transform)数字滤波,将采集的数据带宽限制为0至10kHz,并保持整个数据处理过程中带宽不变。

4.根据权利要求1所述的磁传感器噪声无源测试方法,其特征在于:在第五步中,所述的时域波形转换为频域波形的过程是首先将时域波形进行FFT,然后将磁传感器热噪声和噪声测试系统自有噪声叠加在一起的总噪声的功率谱与噪声测试系统自有噪声的功率谱相减,剔除噪声测试系统的自有噪声。

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