[发明专利]一种图像传感器坏点检测方法、装置及电子设备有效

专利信息
申请号: 202010020753.4 申请日: 2020-01-09
公开(公告)号: CN110830795B 公开(公告)日: 2020-05-19
发明(设计)人: 余梦露;洪志坤;郑增强 申请(专利权)人: 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
主分类号: H04N17/00 分类号: H04N17/00;H04N5/367
代理公司: 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 代理人: 方可
地址: 430205 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 图像传感器 检测 方法 装置 电子设备
【说明书】:

本发明公开了一种图像传感器坏点检测方法、装置及电子设备,涉及数字图像处理技术领域;该检测方法包括:获取图像传感器在不同曝光时间下采集的外部图像并进行坏点检测,记录每一外部图像中检出的备选坏点的位置坐标;比较不同曝光时间下的外部图像中的各备选坏点的位置坐标,若出现相同位置坐标的备选坏点的外部图像个数与外部图像总数的比值不小于预设的比例阈值,则确认该位置坐标的备选坏点为所述图像传感器中的实际坏点像素;本发明通过对不同曝光时间下采集的图像进行坏点检测,再对不同曝光时间下检测到的疑似坏点进行比较,通过设置比例阈值对备选坏点作进一步筛选,大大提高了坏点检测的准确性。

技术领域

本发明属于数字图像处理技术领域,更具体地,涉及一种图像传感器坏点检测方法、装置及电子设备。

背景技术

图像传感器是利用光电器件的光电转换功能,将感光面上的光像转换为与光像成相应比例关系的电信号。与光敏二极管,光敏三极管等“点”光源的光敏元件相比,图像传感器是将其受光面上的光像,分成许多小单元,将其转换成可用的电信号的一种功能器件。

图像传感器被广泛地应用在数码相机和其他电子光学设备中,主要包括CCD传感器和CMOS传感器;由于制造工艺和材料差异,目前图像传感器中可能会存在坏点像素,导致相机采集的图像中的像素值不准确;因此,相机在出厂前,生产厂商会对相机图像传感器中的坏点像素进行检测并将坏点像素坐标存储到相机中;在使用该相机拍摄图像时,可直接调用该坏点坐标对采集图像中的坏点进行矫正;但由于坏点检测标准不同,实际工业检测中,采集相机存储的坏点坐标进行校正后仍不足以满足检测要求,影响检测精度和生产效率;并且相机在高温环境下长时间工作后,坏点像素也会越来越多,从而破坏了其采集图像的清晰度和完整性。

随着图像传感器的图像处理能力越来越强大,对于坏点的检测和修复已经通过实时处理的方式来进行;现有的图像传感器坏点检测方法,一般在一帧图像中,通过判断某一像素点与领域像素点的差别来确认该像素点是否为坏点,如中国专利CN101212703A影像坏点像素检测方法,其根据邻域像素点亮度差及均值设置坏点上限阈值和下限阈值,若该待检测像素点亮度值在两者之间则为正常点,反之为坏点;此类方法的坏点误检率较高,经常将噪点误认为坏点,校正后图像也会出现失真情况,且实时检测对于连续坏点区可能出现较大误检和漏检,耗时较长。

发明内容

针对现有技术的至少一个缺陷或改进需求,本发明提供了一种图像传感器坏点检测方法、装置及电子设备,通过对不同曝光时间下采集的图像进行坏点检测,再对不同曝光时间下检测到的疑似坏点进行比较,通过设置比例阈值对备选坏点作进一步筛选,一定百分比以上图像帧中均出现的疑似坏点被确认为真正的坏点像素,大大提高了坏点检测的准确性。

为实现上述目的,按照本发明的第一个方面,提供了一种图像传感器坏点检测方法,该方法包括以下步骤:

获取图像传感器在不同曝光时间下采集的外部图像并进行坏点检测,记录每一外部图像中检出的备选坏点的位置坐标;

比较不同曝光时间下的外部图像中的各备选坏点的位置坐标,若出现相同位置坐标的备选坏点的外部图像个数与外部图像总数的比值不小于预设的比例阈值,则确认该位置坐标的备选坏点为所述图像传感器中的实际坏点像素。

优选的,上述图像传感器坏点检测方法,所述图像传感器在每个曝光时间下采集的外部图像均包括多帧图像,对外部图像进行坏点检测具体为:

计算每个曝光时间下多帧图像的灰度值的平均值,得到不同曝光时间下对应的平均图像并对所述平均图像进行坏点检测。

优选的,上述图像传感器坏点检测方法,所述图像传感器在每个曝光时间下采集的外部图像包括暗场图像,对所述暗场图像进行坏点检测具体为:

获取暗场图像中各像素点的灰度值并将其与预设的亮点灰度阈值进行比较,确认灰度值大于所述亮点灰度阈值的像素点为备选坏点。

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